[发明专利]一种自适应校正的EVM测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种自适应校正的EVM测试系统及方法,所述系统包括：nPSK信号源(1)，用于产生多种模式的PSK信号，作为EVM测试方法的测试信号，并传输给信号类型检测单元(2)；信号类型检测单元(2)，用于对来自nPSK信号源(1)的测试信号类型进行判断，并将测试信号和判断结果传输给信号估计子系统；信号估计子系统，用于进行测试信号和参考信号的估计，并将估计结果传输给EVM测试单元(10)；EVM测试单元(10)，用于接收来自信号估计子系统的估计结果，计算测试信号的EVM值，并将结果通过EVM测试结果输出单元(11)对外输出。本发明实现了对测试信号的频偏补偿，并在利用滤波器进行频偏校正的同时完成参考信号的构造，相较于传统测试方法更加简单。

技术领域

本发明涉及EVM测试，特别是涉及一种自适应校正的EVM测试系统及方法。

背景技术

传统EVM测试方法为了对测试信号进行估计采用三种方式：1.频域校正法基于快速傅里叶变换，在频谱范围内搜索频偏估计值以实现测试信号的频偏校正；2.时域校正法基于信号的自相关特性，在相关值范围内计算频偏估计值以实现测试信号的频偏校正；3.补偿校正法基于偏移相角的补偿，将算法估计的偏移相角值直接补偿到测试信号中以实现测试信号的频偏校正。在参考信号估计方面，传统EVM测试方法采用对校正后的测试信号解调再调制的方式。

频域校正法中，在测试信号长度有限的情况下会产生不可忽视的估计误差，导致需要采用插值法提高频谱分辨率等方式提高测试精度，间接提高了方法复杂度。时域校正法中，相同相关时延长度下的估计范围与估计精度之间相互矛盾，导致无法保证方法拥有较大估计范围的同时拥有较高的估计精度。补偿校正法中，方法需要针对每个符号遍历搜查滤波器最佳系数以实现对测试信号的频偏补偿，导致方法计算量巨大，收敛速度慢。除此之外，传统构造参考信号的方式实现过程繁杂，这样会造成EVM测试方法整体计算量提高，实现速度过慢。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种自适应校正的EVM测试系统及方法，以估计误差为代价函数自适应调整LMS横向滤波器系数，实现对测试信号的频偏补偿，同时，针对参考信号的构造提出的相角差分法，在利用滤波器进行频偏校正的同时就完成了参考信号的构造，相较于传统测试方法更加简单。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种自适应校正的EVM测试系统，包括：信号估计子系统、nPSK信号源、信号类型检测单元、EVM测试单元和EVM测试结果输出单元；

所述nPSK信号源，用于产生多种模式的PSK信号，作为EVM测试方法的测试信号，并传输给信号类型检测单元；

所述信号类型检测单元，用于对来自nPSK信号源的测试信号类型进行判断，并对测试信号进行复数混频得到I/Q路的测试信号，并进行滤波后，将得到的测试信号与判断结果传输给信号估计子系统；

所述信号估计子系统，用于进行测试信号和参考信号的估计，并将估计结果传输给EVM测试单元；

所述EVM测试单元，用于接收来自信号估计子系统的估计结果，计算测试信号的EVM值，并将结果通过EVM测试结果输出单元对外输出。

其中，所述信号估计子系统包括EVM测试信号估计模块和EVM参考信号估计模块；

所述EVM测试信号估计模块包括初始参数配置单元、LMS横向滤波器、自适应权值控制单元和残余相偏校正单元；所述EVM参考信号估计模块包括相角差分单元、迭代检测单元和EVM参考信号生成单元；

所述初始参数配置单元，用于依据信号类型检测单元的判断结果，确定和配置LMS横向滤波器的初始权值及初始期望相角，并接收测试信号传输给LMS横向滤波器；

所述LMS横向滤波器，用于对接收到的测试信号进行频偏校正处理，并将处理得到的测试信号分别传输给相角差分单元、自适应权值控制单元和残余相偏校正单元；