[发明专利]一种单片层间通孔的制备方法在审
申请号: | 202110661405.X | 申请日: | 2021-06-15 |
公开(公告)号: | CN113496946A | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
发明(设计)人: | 叶怀宇;王少刚;高宸山;杨荟茹;刘起鹏;张国旗 | 申请(专利权)人: | 南方科技大学 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;C09K13/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
地址: | 518055 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单片 层间通孔 制备 方法 | ||
1.一种单片层间通孔的制备方法,其特征在于,所述单片层间通孔的制备方法包括以下步骤:
(1)掩膜图形的制备:将硅片依次进行旋涂、前烘、曝光、显影和坚膜;
(2)去氧化层预处理:将形成掩膜图形的硅片置于酸溶液中浸泡,除去硅片表面氧化的SiO2薄膜;
(3)生物化学变温刻蚀:将去氧化层的硅片置于生物化学刻蚀液中浸泡,进行生物化学变温刻蚀,形成单片层间通孔;
其中,所述生物化学刻蚀液为含产碱厌氧菌的刻蚀液。
2.根据权利要求1所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,所述产碱厌氧菌包括地衣芽孢杆菌、蜡样芽孢杆菌或粪产碱菌中的任意一种或至少两种的组合。
3.根据权利要求1或2所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,所述含产碱厌氧菌的刻蚀液由以下制备方法制备得到:
(a)将产碱厌氧菌接种到培养基中进行初步培养,再进行聚集提纯;
(b)将步骤(a)聚集提纯得到的产物和缓冲液混合进行再培养,得到含产碱厌氧菌的刻蚀液。
4.根据权利要求3所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,步骤(a)中,所述培养基包括NA培养基和/或蔡氏培养基;
优选地,步骤(a)中,所述初步培养的产碱厌氧菌的接种量为2-3mL;
优选地,步骤(a)中,所述产碱厌氧菌的个数为107-108个/mL;
优选地,步骤(a)中,所述初步培养的温度为35-40℃,所述初步培养的时间为24-48h;
优选地,步骤(a)中,所述聚集提纯采用离心,所述离心的转速为1500-2000rpm,所述离心的时间为5-10min。
5.根据权利要求3或4所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,步骤(b)中,所述产物和缓冲液的体积比为(2-4):(6-8);
优选地,步骤(b)中,所述缓冲液为磷酸盐缓冲液;
优选地,所述磷酸盐缓冲液的pH为7-8;
优选地,步骤(b)中,所述再培养的温度为35-40℃,所述再培养的时间为2-6h;
优选地,步骤(b)中,所述含产碱厌氧菌的刻蚀液中活菌数为300000-350000个。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述硅片的晶相为100,所述硅片的厚度为0.5-5μm;
优选地,步骤(1)中,所述旋涂为正性光刻胶的旋涂,所述旋涂的涂布速度区间为1000-5000rpm,所述旋涂的涂布加速度为500-1500rpm/s,所述旋涂的涂布时间为10-30s;
优选地,步骤(1)中,所述前烘的温度为80-120℃,所述前烘的时间为150-200s;
优选地,步骤(1)中,所述曝光为将硅片置于曝光机中进行1-10s曝光;
优选地,步骤(1)中,所述显影为将硅片置于显影液中进行20-40s显影;
优选地,步骤(1)中,所述坚膜的温度为110-130℃,所述坚膜的时间为60-120s。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述酸溶液为氢氟酸溶液;
优选地,步骤(2)中,所述酸溶液的浓度为0.5-2wt%;
优选地,步骤(2)中,所述浸泡的温度为21-23℃,所述浸泡的时间为10-30s。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的单片层间通孔的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,所述生物化学刻蚀液需先倒入恒温循环水槽中,在30-40℃下稳定0.5-2h;
优选地,步骤(3)中,所述生物化学变温刻蚀的变温度参数包括4个阶段,第一阶段时间为1-3h,温度为30-37℃;第二阶段时间为1-3h,温度为33-39℃;第三阶段时间为1-3h,温度为35-40℃;第四阶段时间为1-3h,温度为37-42℃;
优选地,步骤(3)中,所述生物化学变温刻蚀的时间为4-12h。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造