[发明专利]可增加工作表面适用性的轨迹追踪装置在审
申请号: | 202110661452.4 | 申请日: | 2018-05-22 |
公开(公告)号: | CN113504838A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 陈晖暄;杨政霖;陈之悠 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/0354 | 分类号: | G06F3/0354;G01B11/02 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 李学森;肖冰滨 |
地址: | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可增加 工作 表面 适用性 轨迹 追踪 装置 | ||
提供一种轨迹追踪装置,用于检测相对工作表面的位移量,所述轨迹追踪装置包含:图像传感器,该图像传感器用于输出图像帧;部分反射板;第一光源,该第一光源用于朝向所述工作表面打光以产生散射光,该散射光不经过所述部分反射板入射至所述图像传感器;以及第二光源,该第二光源用于朝向所述部分反射板打光以产生垂直所述工作表面的部分反射光,该部分反射光经所述工作表面反射后入射至所述图像传感器。
本申请是申请号为201810497372.8、申请日为2018年05月22日、名称为“可增加工作表面适用性的轨迹追踪装置”的中国发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明有关一种光学式轨迹追踪装置,更特别有关一种可增加工作表面适用性的光学式轨迹追踪装置。
背景技术
光学式位移检测装置通常包含光源、图像传感器以及处理器。所述光源用于照明工作表面。所述图像传感器用于获取来自所述工作表面的反射光并输出像素数据。所述处理器则根据所述像素数据计算所述位移检测装置相对于所述工作表面的位移量。
然而,已知光学式位移检测装置存在无法在所有工作表面正常操作的限制。例如,适用于反光表面的位移检测装置可能无法适用于吸光表面,反之亦然。
因此,一种能够操作于任何工作表面的光学式位移检测装置实为所需。
发明内容
本发明提供一种可同时适用于平滑及粗糙工作表面的轨迹追踪装置。
本发明还提供一种可计算图像传感器与工作表面之间的距离的轨迹追踪装置,该轨迹追踪装置还可根据所述距离计算调整位移的倍率以输出大致相同的每英寸计数(counts per inch),藉以提升使用者经验。
本发明提供一种用于检测相对工作表面的位移量的轨迹追踪装置。该轨迹追踪装置包含图像传感器、部分反射板、第一光源及第二光源。所述图像传感器用于输出图像帧。所述第一光源用于朝向所述工作表面打光以产生散射光,该散射光不经过所述部分反射板入射至所述图像传感器。所述第二光源用于朝向所述部分反射板打光以产生垂直所述工作表面的部分反射光,该部分反射光经所述工作表面反射后入射至所述图像传感器。
本发明中,工作表面例如为桌面、地面、地毯表面、玻璃表面、瓷砖表面或其他可供轨迹追踪装置行进的表面。轨迹追踪装置可使用不同运作模式适用于不同工作表面。
为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显,下文将配合所附图示,详细说明如下。此外,在本发明的说明中,相同的构件以相同的符号表示,在此先述明。
附图说明
图1为本发明一种实施方式的轨迹追踪装置的示意图;
图2为本发明另一种实施方式的轨迹追踪装置的示意图;
图3为本发明再一种实施方式的轨迹追踪装置的示意图。
附图标记说明
100 轨迹追踪装置
11 图像传感器
12 第一光源
13 第二光源
14 透镜
15 处理器
16 第三光源
17 壳体
具体实施方式
本发明应用于光学式轨迹追踪装置,该光学式轨迹追踪装置可适用于任何工作表面,包括玻璃表面、浅色瓷砖表面等强反光表面,以及地毯表面、深色瓷砖表面等弱反光表面,以有效增加轨迹追踪装置的可操作工作表面。
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