[发明专利]一种痕迹检验测量装置有效

专利信息
申请号: 202110662365.0 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113406078B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 周毅锦 申请(专利权)人: 江苏警官学院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 南京业腾知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32321 代理人: 董存壁
地址: 210031 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 痕迹 检验 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种痕迹检验测量装置,包括底板(1),所述底板(1)上方固定有第一固定座(2)和第二固定座(19),所述第二固定座(19)远离底板(1)的一面设有显微镜(23)一个或多个,其特征在于:所述第一固定座(2)远离底板(1)的一面设有吸引部件(13),所述吸引部件(13)和第一固定座(2)之间设有用于调节吸引部件(13)位置的调节部件;

所述吸引部件(13)包括与调节部件相固定的支撑板(1306),所述支撑板(1306)另一面固定有弹簧板(1305),弹簧板(1305)两端包裹有第一拉板(1301)和第二拉板(1303),所述第一拉板(1301)和第二拉板(1303)靠近调节部件的一面分别设有第一活动足(1302)和第二活动足(1304),所述第一活动足(1302)和第二活动足(1304)与调节部件滑动连接;所述第一拉板(1301)和第二拉板(1303)分离状态下,弹簧板(1305)弹出且高度与第一拉板(1301)、第二拉板(1303)齐平;所述第一拉板(1301)和第二拉板(1303)并拢状态下,弹簧板(1305)被第一拉板(1301)、第二拉板(1303)包裹;

所述吸引部件(13)远离调节部件的一面吸附有用于固定物证的容纳部件(14),所述容纳部件(14)数量与显微镜(23)数量一致;所述容纳部件(14)包括呈多面体状的结构支撑框(15),所述结构支撑框(15)一面活动吸附有用于显微镜(23)探入的显微镜探入板(16);所述结构支撑框(15)其他面活动吸附有测量固定板(17);

所述测量固定板(17)包括与结构支撑框(15)吸附的固定框(1701),所述固定框(1701)内交错垂直固定有刻度条(1702)若干,各所述刻度条(1702)上设有螺纹孔(1703)若干,螺纹孔(1703)内旋转连接有起固定作用的固定部件(18)。

2.根据权利要求1所述的一种痕迹检验测量装置,其特征在于:所述调节部件包括与第一固定座(2)固定的横向位移板(3),所述横向位移板(3)远离第一固定座(2)的一面设有横向滑槽(4),所述横向滑槽(4)内活动连接有第一滑条(6),所述第一滑条(6)远离横向滑槽(4)的一面固定有纵向位移板(8),调节纵向位移板(8)时所述第一滑条(6)在横向滑槽(4)内滑动;

所述纵向位移板(8)远离第一滑条(6)的一面设有与横向滑槽(4)垂直的纵向滑槽(9),所述纵向滑槽(9)内活动连接有第二滑条(11),所述第二滑条(11)远离纵向位移板(8)的一面与支撑板(1306)相固定,调节吸引部件(13)时所述第二滑条(11)在纵向滑槽(9)内滑动。

3.根据权利要求2所述的一种痕迹检验测量装置,其特征在于:所述横向位移板(3)与底板(1)垂直的侧面间隔设有第一限位孔(5)若干,所述第一滑条(6)靠近第一限位孔(5)的一面设有第一探入孔;所述纵向位移板(8)与底板(1)垂直的侧面间隔设有第二限位孔(10)若干,所述第二滑条(11)靠近第二限位孔(10)的一面设有第二探入孔;所述第一限位孔(5)和第一探入孔之间、第二限位孔(10)和第二探入孔之间均连接有限位部件(7);连接限位部件(7)状态下,纵向位移板(8)和吸引部件(13)位置得到限定;卸下限位部件(7)状态下,纵向位移板(8)和吸引部件(13)位置解除限定。

4.根据权利要求3所述的一种痕迹检验测量装置,其特征在于:所述限位部件(7)包括用于连接第一限位孔(5)和第一探入孔或连接第二限位孔(10)和第二探入孔的限位主体(701),所述限位主体(701)一侧设有连接块(702),所述连接块(702)另一侧设有深入块(703);所述深入块(703)分别嵌合在第一限位孔(5)、第一探入孔、第二限位孔(10)和第二探入孔内。

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