[发明专利]一种基于LTE的上行路径损耗测试方法有效

专利信息
申请号: 202110662739.9 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113556193B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 龚园园 申请(专利权)人: 北京长焜科技有限公司
主分类号: H04B17/309 分类号: H04B17/309;H04B17/318;H04W24/08;H04W52/14;H04W52/24;H04W52/36
代理公司: 北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 代理人: 曾京京
地址: 100176 北京市大兴区经济技*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 lte 上行 路径 损耗 测试 方法
【说明书】:

发明涉及一种基于LTE的上行路径损耗测试方法,所述损耗测试方法包括以下步骤:步骤1、UE上行共享信道(Physical uplink shared channel,PUSCH)的功率控制;步骤2、UE上报功率剩余PH;步骤3、UE根据配置的PH上报周期进行周期上报PH;步骤4、eNB测量UE发送的上行共享信道信号的强度,基站测量PUSCH平均一个RB的接收信号强度RSSIperRB:UE上报PH时隙t0,测量计算上行路径损耗PLuplink;步骤5、对PH上报时隙测量计算得到的上行路径损耗进行滤波,选择α1作为滤波系数;本发明的优越效果在于:利用本发明提供的计算上行路径损耗的方法,在UE不上报RSRP时,能够测量计算得到UE的上行路径损耗值,利用计算得到的上行路径损耗值进行链路自适应调度。

技术领域:

本发明涉及LTE无线通信领域,具体而言,涉及一种基于LTE的上行路径损耗测试方法。

背景技术:

路径损耗(Path Loss,PL),或称传播损耗,指电波在空间传播所产生的损耗,是由发射功率的辐射扩散及信道的传播性造成的,反映宏观范围内接收信号功率均值的变化。

基于LTE(Long Term Evolution)无线通信技术的移动终端和通信基站之间的路径损耗和两者之间的距离、无线信号的载波频率和传输环境有关。现有技术中,演进基站(evolved NodeB,eNB)通过系统消息告诉用户设备(User Equipment,UE)下行链路参考信号(Reference Signal,RS)发送功率(Transmission Power,TP)。UE接收eNB发送的RS后,测量RS的接收信号功率(Reference Signal Received Power,RSRP),UE基于RS的发送功率和接收功率计算UE和eNB之间的路径损耗(PL),UE利用此PL值进行上行发送功率控制,并把RSRP测量结果通过测量上报告诉基站,eNB获得UE上报的RSRP后,计算得到路径损耗,eNB利用路径损耗进行无线链路自适应调度。如下图所示。在某些LTE的边缘频点上,UE不上报RSRP的测量结果,eNB无法通过上述方法获得两者之间的路径损耗。另外,UE采用LTE的上行功率技术,UE和eNB之间的路径损耗被UE上行发送功率部分的或者全部补偿,eNB无法通过测量上行接收信号的强度,获得UE和eNB之间的路径损耗。

发明内容

针对现有技术存在的缺陷和不足,本发明提出一种基于LTE的上行路径损耗测试方法,所述测试方法包括以下步骤:

步骤1、UE上行共享信道(Physical uplink shared channel,PUSCH)的功率控制:

UE在当前发送时隙i,实际使用的上行发送功率PPUSCH(i)的获得方法如下式(1):

当采用PTX(i)代表UE期望的上行发送功率PPUSCH(i),即下式(2):

那么,PPUSCH(i)表示为下式(3):

PPUSCH(i)=min{PCMAX,PTX(i)}……(3):

当UE期望的发送功率小于等于UE能力所支持的最大发送功率,那么UE使用期望发送功率发送数据;否则,UE使用最大发送功率发送数据,eNB具有UE的最大发送功率(PCMAX)信息,

上式(1)中:i为当前发送时隙,PCMAX-UE的最大发送功率,Po_PUSCH为期望接收功率谱密度,其参考取值不影响本发明的实施,为滤波系数,α取值范围为0~1之间;

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