[发明专利]扩展电路系统信号分析与处理方法及存储介质

说明书

本发明公开了一种扩展电路系统信号的分析与处理方法及存储介质，其中方法包括如下步骤：S100：根据待测电路单元，选取两个电信号x(t)和y(t)，并建立两个电信号之间的关系式；S200：得到关于传输算子H(p)的系数的线性方程组；S300：根据预设的采样频率采集待测电路的两个电信号x(t)和y(t)的实际值并对它们预处理；S400：将经过预处理的x(t)和y(t)的实际值带入到线性方程组中，求解传输算子H(p)的系数；S500：根据待测电路结构，确定传输算子H(p)的系数与待测电路各元件值之间的关系式，并根据该关系式及步骤S400中解得的H(p)的系数计算待测电路的各元件值。上述方法可以获得电路单元的各元件的参数值，便于实现对电路系统的单元进行更优的故障监测及实时保护。

技术领域

本发明涉及信号分析与处理领域，特别涉及一种扩展电路系统信号分析与处理方法及存储介质。

背景技术

对于带电运行的电路系统，实际中普遍存在着测量其中某些电路参数的需求。

申请公布号为CN111458626A，申请人为南京信息工程大学，名为“基于共生多源泛函数计算的电路系统信号分析与处理方法”的发明专利公开了一种对运行电路的参数进行实时测量问题，但是其公开的方法仅能实现对电路中的单一元件值的参数值的测量，而实际的电路单元中往往需要测量多个元件的参数值。

发明内容

发明目的：本发明的目的是提出一种扩展电路系统信号分析与处理方法，可以测量电路单元中多个元件的参数值，大大扩展参数实时测量的有效应用范围。

本发明的另一目的是提出一种存储有上述方法对应的计算机程序的计算机可读存储介质。

技术方案：本发明所述的扩展电路系统的信号分析与处理方法，包括如下步骤：

S100：根据待测电路单元，选取两个电信号x(t)和y(t)，并建立两个电信号之间的关系式x(t)＝H(p)y(t)+x_δ(t)，式中H(p)为传输算子，x_δ(t)为x(t)中的不平衡成分；

S200：选取传输算子H(p)的系数中的未知量对应的导函数与关系式两边函数求短时内积，得到关于传输算子H(p)的系数的线性方程组；

S300：根据预设的采样频率采集待测电路的两个电信号x(t)和y(t)的实际值，并对采集获得x(t)和y(t)的实际值进行预处理；

S400：将经过预处理的x(t)和y(t)的实际值带入到线性方程组中，求解传输算子H(p)的系数；

S500：根据待测电路结构，确定传输算子H(p)的系数与待测电路各元件值之间的关系式，并根据该关系式及步骤S400中解得的H(p)的系数计算待测电路的各元件值。

进一步的，所述步骤S200包括：