[发明专利]堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110671199.0 申请日: 2021-06-17
公开(公告)号: CN113312792B 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 张斌;赵文博;刘琨;蔡云;于颖锐;宫兆虎;李庆 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 林菲菲
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 堆芯逐棒 计算 中栅元 等效 均匀 常数 计算方法 系统
【权利要求书】:

1.堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法,其特征是,包括以下步骤:

进行全反射边界条件下单组件栅格计算,栅元均匀化后得到各栅元类型的均匀化截面参;

初始化超级均匀化因子;

根据超级均匀化因子修正栅元均匀化后产生的均匀化截面,并采用堆芯中子学求解方法对全反射边界条件下栅元均匀化的组件问题进行计算,得到均匀化栅元的平均中子通量密度;

根据均匀化截面参和平均中子通量密度更新超级均匀化因子;

判断更新后的超级均匀化因子是否收敛;若收敛则计算停止;否则重复修正、更新进行迭代计算,直至得到由各栅元的超级均匀化因子组成的栅元等效均匀化常数;

所述均匀化截面参的计算过程具体为:

其中,下标x表示截面类型;下标g表示粗能群号;上标hom表示均匀化后参数;上标l表示栅元类型;下标h表示细能群号;上标het表示均匀化前参数;V表示体积;r表示空间变量;表示均匀化后栅元类型l的g粗群的x类型的截面;表示均匀化前h细群的x类型截面;表示均匀化前h细群的中子通量密度。

2.根据权利要求1所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法,其特征是,所述超级均匀化因子的更新过程具体为:

其中,μi,g表示i栅元g粗群的超级均匀化因子;分别表示均匀化前后i栅元g粗群的平均中子通量密度。

3.根据权利要求1所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法,其特征是,所述均匀化截面与栅元类型相关。

4.根据权利要求1所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法,其特征是,所述超级均匀化因子与各栅元空间位置相关。

5.堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算系统,其特征是,包括:

计算模块,用于进行全反射边界条件下单组件栅格计算,栅元均匀化后得到各栅元类型的均匀化截面参;

初始化模块,用于初始化超级均匀化因子;

修正模块,用于根据超级均匀化因子修正栅元均匀化后产生的均匀化截面,并采用堆芯中子学求解方法对全反射边界条件下栅元均匀化的组件问题进行计算,得到均匀化栅元的平均中子通量密度;

更新模块,用于根据均匀化截面参和平均中子通量密度更新超级均匀化因子;

判断模块,用于判断更新后的超级均匀化因子是否收敛;若收敛则计算停止;否则重复修正、更新进行迭代计算,直至得到由各栅元的超级均匀化因子组成的栅元等效均匀化常数;

所述均匀化截面参的计算过程具体为:

其中,下标x表示截面类型;下标g表示粗能群号;上标hom表示均匀化后参数;上标l表示栅元类型;下标h表示细能群号;上标het表示均匀化前参数;V表示体积;r表示空间变量;表示均匀化后栅元类型l的g粗群的x类型的截面;表示均匀化前h细群的x类型截面;表示均匀化前h细群的中子通量密度。

6.根据权利要求5所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算系统,其特征是,所述均匀化截面与栅元类型相关,所述超级均匀化因子与各栅元空间位置相关。

7.一种计算机终端,包含存储器、处理器及存储在存储器并可在处理器上运行的计算机程序,其特征是,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-4中任意一项所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法。

8.一种计算机可读介质,其存储有计算机程序,其特征是,所述计算机程序被处理器执行可实现如权利要求1-4中任意一项所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法。

9.一种处理器,处理器用于运行计算机程序,其特征是,计算机程序运行时执行如权利要求1-4中任意一项所述的堆芯逐棒计算中栅元等效均匀化常数的计算方法。

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