[发明专利]一种用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置

说明书

本申请提供一种用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置，包括箱体和测温组件；箱体为密闭结构，内部设有微波吸收材料；测温组件位于箱体内，包括红外热像仪；箱体上对应红外热像仪设有观察窗；红外热像仪与观察窗之间通过封闭的吸波罩连接。根据本申请实施例提供的技术方案，通过密闭的箱体屏蔽箱体外部的真空环境，配合微波吸收材料屏蔽外部的强电磁环境，使红外热像仪处于常温常压弱场强的环境下；而红外热像仪与观察窗之间还通过吸波罩连接，则可以对透过观察窗进入的电磁波进行吸收。

技术领域

本申请涉及特种试验技术领域,具体涉及一种用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置。

背景技术

航天器表面一般大量铺设了多层隔热组件(MLI)，多层隔热组件一般由若干层的镀铝膜和间隔层组成(一般可达5-20层)，其中内部的镀铝膜的基材一般为聚酯膜，间隔层一般为涤纶线、阻燃线等，外部膜的基材一般为聚酰亚胺材质，同时为了增强其表面适应性，也有在表面渗碳、镀ITO等工艺的多层隔热组件。在真空、强电磁场的耦合作用下，多层隔热组件表面可能发生二次电子倍增效应、低气压放电等现象，导致多层隔热组件的表面甚至内部发生损毁，可能对航天器的热控性能、屏蔽效能产生不利的影响，甚至导致内部的材料在强场作用下发生进一步的损坏。其损伤机理非常复杂，往往存在微放电、低气压放电的耦合作用。

此外，航天器表面的其他铺覆材料也可能存在类似的损伤现象。因此为了评估航天器表面材料在真空、低温、强场耦合作用下的损伤机理，一般需要地面模拟环境下进行试验，以红外热像仪对试件表面进行观测可以直观表征试件表面温度，快速定位试件表面发生介质击穿的区域。

然而，检测设备在真空下，往往会因为低温导致超出使用温度范围，造成材料冻坏，润滑失效等问题；高达数百至数千V/m的强场则导致了对电子器件的干扰、降级甚至损伤，此问题亟待进行解决。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置。

本申请提供一种用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置，包括箱体和测温组件；箱体为密闭结构，内部设有微波吸收材料；测温组件位于箱体内，包括红外热像仪；箱体上对应红外热像仪设有观察窗；红外热像仪与观察窗之间通过封闭的吸波罩连接。

进一步的，观察窗处设有用于电磁屏蔽的锗玻璃；锗玻璃通过法兰压装在箱体上。

进一步的，箱体内还设有控制系统；箱体上对应控制系统设有气密电连接器和气密光纤连接器。

进一步的，控制系统包括控制器、电源模块和交换机；电源模块与气密电连接器连接，用于对系统供电；交换机与气密光纤连接器连接，用于提供控制器和热像仪与以太网连接。

进一步的，还包括加热模块；加热模块与控制器电连接，用于控制箱体内的温度；加热模块包括温度传感器、加热器和场效应管；场效应管与加热器电连接，通过控制器与温度传感器信号连接。

进一步的，还包括继电器模块；继电器模块连接在电源模块与红外热像仪之间，通过控制器控制，用于控制电源通断。

进一步的，还包括光纤交换机；光纤交换机位于箱体的外部，与计算机电连接；交换机与光纤交换机之间通过气密光纤连接器连接。

本申请具有的优点和积极效果是：

本技术方案通过密闭的箱体屏蔽箱体外部的真空环境，配合微波吸收材料屏蔽外部的强电磁环境，使红外热像仪处于常温常压弱场强的环境下；而红外热像仪与观察窗之间还通过吸波罩连接，则可以对透过观察窗进入的电磁波进行吸收。

附图说明

图1为本申请实施例提供的用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的用于真空、低温、强电磁场环境的红外测温装置的外观的结构示意图；