[发明专利]一种通道间采样时序不同步的校正方法及系统

权利要求书

1.一种通道间采样时序不同步的校正方法，其特征在于，包括：

S1、设置指定频率的射频信号，通过功分器输出M路分别进行变频，转换为中频信号；

S2、通过AD采样单元采集并存储M路中频信号，重复S1-S2，完成多个指定频率的中频信号的AD数据的采样存储；

S3、任选其中一路为参考通道，计算采集存储的所有频率下的其他通道与参考通道AD数据的相位差，并绘制相位差随频率变化的相位差曲线，同时计算采样同步的真实相位差随频率变化的趋势并绘制其相位差变化趋势曲线；

S4、根据采集数据绘制的相位差曲线与采样同步的相位差变化趋势曲线进行比较的结果，判断是否存在采样不同步的通道，对采样不同步的通道进行超前或延后判断，根据超前或延后的结果来对不同步的通道进行相应的校正；

S5、对校正后的通道进行验证，当校正后通道的相位差曲线与真实相位差曲线趋势一致时，则表示校正补偿的时延就是通道间采样不同步时延，完成校正；

所述S4中，是否存在采样时序不同步通道的判断方法为：根据各通道的相位差曲线进行判断，若所有通道的相位差曲线都存在折叠反转，则表示参考通道采样不同步；若仅有个别通道相位差曲线存在折叠反转，则表示对应的通道采样不同步。

2.根据权利要求1所述的通道间采样时序不同步的校正方法，其特征在于，所述S4中，进行超前或延后的判断方法为：若相位差折叠呈现上升趋势，则表示该通道超前于参考通道，对该通道进行延后校正；若相位差折叠呈现下降趋势，则表示该通道滞后于参考通道，对该通道进行超前校正。

3.根据权利要求2所述的通道间采样时序不同步的校正方法，其特征在于，延后校正公式为：超前校正公式为：

其中，表示第i路的通道在载频为f_m的条件下的通道真实相位差，为AD采样未同步的测量相位差，Δt_i是AD采样时钟的时延，Δt_i＝NT＝N/fs，其时延为采样时钟周期的整数倍。

4.根据权利要求3所述的通道间采样时序不同步的校正方法，其特征在于，所述S4的具体校正方法为：根据超前或延后的判断结果，通过对该通道进行采样时钟周期的整数倍进行相应的遍历校正，并对校正后的通道重新绘制相位差曲线，当相位差曲线趋于平缓并且没有折叠翻转的现象，则可确定当前的校正时延就是采样不同步时延。

5.一种通道间采样时序不同步的校正系统，其特征在于，包括信号发生单元、多通道变频单元、AD采样单元、存储单元、相位差计算单元、校正补偿单元及校正验证单元；

信号发生单元输出指定频率的射频信号至功分器，由功分器输出M路到多通道变频单元；多通道变频单元将射频信号转换为中频信号；AD采样单元采集M路通道变频后的中频信号的数据；存储单元存储AD采样单元采集的不同频率的中频信号的AD数据；相位差计算单元对采样的不同频率中频信号的AD数据进行相位差计算，并绘制相位差随频率变化的相位差曲线，以及计算采样同步的真实相位差随频率变化的趋势并绘制其相位差变化趋势曲线；校正补偿单元，判断出采样时序不同步的通道，对采样时序不同步的通道进行相应的校正补偿；校正验证单元，绘制校正后的相位差曲线，用于验证校正是否完成；

所述校正补偿单元根据各通道的相位差曲线进行判断，若所有通道的相位差曲线都存在折叠反转，则表示参考通道采样不同步；若仅有个别通道相位差曲线存在折叠反转，则表示对应的这些通道采样时序不同步，根据相位差变化趋势判断该通道是超前还是滞后，以判断的结果来对该通道进行相应的采样时钟周期整数倍的遍历校正，并对校正后的通道重新绘制相位差曲线，当相位差曲线趋于平缓并且没有折叠翻转的现象，则表示当前的校正时延就是采样不同步时延。

6.根据权利要求5所述的通道间采样时序不同步的校正系统，其特征在于，超前或延后的判断方法为：若相位差折叠呈现上升趋势，则表示该通道超前于参考通道，对该通道进行延后校正；若相位差折叠呈现下降趋势，则表示该通道滞后于参考通道，对该通道进行超前校正。

7.根据权利要求6所述的通道间采样时序不同步的校正系统，其特征在于，校正验证单元的具体验证过程为：对校正后的通道进行验证，当校正后通道的相位差曲线与真实相位差曲线趋势一致时，则表示校正补偿的时延就是通道间采样不同步时延，完成校正。