[发明专利]载置台和检查装置在审
申请号: | 202110672681.6 | 申请日: | 2021-06-17 |
公开(公告)号: | CN113851416A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 小林将人;中山博之;小林大 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/66 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;刘芃茜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 载置台 检查 装置 | ||
1.一种载置台,其特征在于,包括:
载置部,其具有用于载置被检查体的板部件和透光性部件;以及
光照射机构,其照射光以使所述被检查体升温,
所述板部件和所述透光性部件由线膨胀系数为1.0×10-6/K以下的低热膨胀材料形成。
2.如权利要求1所述的载置台,其特征在于:
所述板部件由具有透光性的材料形成,
在所述板部件的表面具有热喷涂膜,
所述热喷涂膜能够被照射从所述光照射机构辐射的光而被加热。
3.如权利要求1所述的载置台,其特征在于:
所述板部件由金属材料形成,
所述金属材料能够被照射从所述光照射机构辐射的光而被加热。
4.如权利要求1所述的载置台,其特征在于:
所述板部件包括:金属材料,其具有在厚度方向上贯通的孔;和形成于该金属材料的表面的热传导膜,
所述板部件能够被照射从所述光照射机构辐射的光而被加热。
5.如权利要求3或4所述的载置台,其特征在于:
在所述板部件的表面具有热喷涂膜。
6.如权利要求2或5所述的载置台,其特征在于:
所述热喷涂膜具有:
在所述板部件上形成的第一绝缘膜;
在所述第一绝缘膜上形成的测温电阻体膜;和
在所述测温电阻体膜上形成的第二绝缘膜。
7.如权利要求1~6中任一项所述的载置台,其特征在于:
所述载置部具有供致冷剂流动的流路。
8.一种检查装置,其特征在于,包括:
用于载置被检查体的载置台;
与所述载置台相对地配置的探针卡;和
与所述探针卡连接的测试器,
所述载置台具有:
载置部,其具有用于载置所述被检查体的板部件和透光性部件;以及
光照射机构,其照射光以使所述被检查体升温,
所述板部件和所述透光性部件由线膨胀系数为1.0×10-6/K以下的低热膨胀材料形成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110672681.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造