[发明专利]一种薄膜材料激光损伤的识别方法及装置在审
申请号: | 202110677862.8 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113447497A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 徐均琪;苏俊宏;吴慎将;时凯;汪桂霞;李阳;于淼;孙少斌;王通 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 材料 激光 损伤 识别 方法 装置 | ||
1.一种薄膜材料激光损伤的识别方法,其特征在于:是对薄膜施加强激光,一旦薄膜发生损伤,将导致等效厚度发生了变化,通过测量激光辐照前后的样品振荡周期(或频率),从而确定薄膜是否损伤。
2.根据权利要求1所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法,其特征在于:方法为:首先测试镀有薄膜的石英晶体样品的初始振荡频率或者周期,然后测试样品表面受到高能激光辐照后振荡频率或者周期的变化,最后对高能激光脉冲作用前后,样品振荡频率或者周期的变化进行判断,确定测试样品是否发生了损伤。
3.一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:包括激光器和数据处理组件,激光器的出射光路依次设置扩束准直系统、衰减器,聚焦镜,和二维样品台,所述二维样品台上设置垂直于光路的测试样品,测试样品为镀制在石英晶体上的薄膜材料,石英晶片上下两个表面预先制备有上下电极,其中下表面镀制的电极完全覆盖整个晶片表面,上表面中心位置镀制薄膜材料,环形电极镀制在石英晶片最大口径处。
4.根据权利要求3所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述石英晶体上表面的电极宽度为1~3mm。
5.根据权利要求3或4所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述高能激光器为高能量脉冲激光器,波长为532nm或1064nm,脉宽为10ns,束斑单脉冲能量为400mJ。
6.根据权利要求5所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述衰减器由4组5片中性密度吸收玻璃组成,其玻璃表面两侧镀制有1064nm减反射膜。
7.根据权利要求6所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述石英晶片表面的电极与数据处理组件连接,所述数据处理组件包括依次相接的处理电路、模数A/D转换器和计算机。
8.根据权利要求3所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述衰减器和二维工作台等均采用伺服电机驱动。激光器的脉冲发射指令由计算机程序控制。
9.根据权利要求7所述的一种薄膜材料激光损伤的识别方法采用的识别装置,其特征在于:所述会聚透镜焦距为120-150mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工业大学,未经西安工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110677862.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种单立柱码垛机的横梁结构
- 下一篇:双温控系统及其控制方法、装置