[发明专利]一种文件完整性校验的方法、系统和装置

权利要求书

1.一种文件完整性校验的方法，其特征在于，包括：

第一处理器从微控制器单元MCU获取第一完整性校验值，所述第一完整性校验值用于对目标文件的完整性进行验证；

所述第一处理器根据所述第一完整性校验值和第二完整性校验值，对所述目标文件进行第一完整性验证，所述第二完整性校验值为所述目标文件的完整性校验的基线值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取所述第一完整性校验值之前，所述方法还包括：

所述第一处理器向所述MCU发送所述第一完整性校验值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在向所述MCU发送所述第一完整性校验值之前，所述方法还包括：

所述第一处理器挂载第一存储器，所述第一存储器存储有所述目标文件和签名文件，所述签名文件中记录有所述第二完整性校验值；

所述第一处理器计算所述目标文件的所述第一完整性校验值；

所述第一处理器获取所述第二完整性校验值；

所述第一处理器根据所述第一完整性校验值和所述第二完整性校验值，确定所述目标文件通过完整性验证。

4.根据权利要求1-3任一项所述方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一处理器重新启动时，通知所述MCU卸载所述第一存储器，所述第一存储器存储有所述目标文件和签名文件，所述签名文件中记录有所述第二完整性校验值；

所述第一处理器重新挂载所述第一存储器；

所述第一处理器根据所述签名文件，获取所述第二完整性校验值。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述第一处理器确定所述目标文件未通过所述第一完整性验证；

所述第一处理器根据所述目标文件计算第三完整性校验值；

所述第一处理器根据所述第二完整性校验值和所述第三完整性校验值，再次对所述目标文件进行第二完整性验证。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述目标文件通过所述第二完整性验证后，所述第一处理器向所述MCU发送所述第三完整性校验值。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述第一完整性校验值为哈希Hash值。

8.一种文件完整性校验的方法，其特征在于，包括：

MCU接收第一处理器发送的第一完整性校验值，所述第一完整性校验值用于对目标文件的完整性进行验证；

所述MCU保存所述第一完整性校验值。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在检测到所述目标文件发生变更或第一存储器下线时，所述MCU清空所述第一完整性校验值，其中，所述第一存储器存储有所述目标文件和签名文件，所述签名文件中记录有所述目标文件的完整性校验的基线值。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述MCU在所述第一处理器重新启动时向所述第一处理器发送所述第一完整性校验值。

11.根据权利要去8-10任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述MCU在所述第一处理器重新启动时，卸载所述第一存储器，所述第一存储器存储有所述目标文件和签名文件，所述签名文件中记录有所述目标文件的完整性校验的基线值。

12.根据权利要求8-11任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述MCU确定所述第一处理器下线后，挂载所述第一存储器，所述第一存储器存储所述目标文件和签名文件，所述签名文件中记录有所述目标文件的完整性校验的基线值。