[发明专利]光检测装置在审

专利信息
申请号: 202110685333.2 申请日: 2017-06-09
公开(公告)号: CN113542637A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 西野辰树;植野洋介;森山祐介;松本静徳 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H04N5/357 分类号: H04N5/357;H04N5/3745;H04N5/376;H04N5/378;H01L27/146;H01L27/148
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 李晗;曹正建
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种光检测装置,包括:

像素,其配置为输出像素信号,其中,所述像素包括:

光电转换区域;

浮动扩散区域,其连接至所述光电转换区域;和

选择晶体管;

垂直信号线,其连接至所述选择晶体管的源极或所述选择晶体管的漏极;

开关电路,其包括连接至所述选择晶体管的栅极的第一开关;以及

负电压电源,其连接至所述开关电路,

其中,所述负电压电源配置为生成负电位,且

所述选择晶体管的所述栅极配置为通过所述第一开关选择性地连接至所述负电位或电源电位。

2.根据权利要求1所述的光检测装置,其还包括:

参考信号发生电路,其配置为生成参考信号;

校正电路,其连接在所述负电压电源和所述参考信号发生电路之间;以及

比较器,其配置为比较所述像素信号和所述参考信号。

3.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,所述比较器还配置为根据所述像素信号和所述参考信号的所述比较来执行所述像素信号和所述参考信号之间的匹配的检测。

4.根据权利要求3所述的光检测装置,其还包括计数电路,所述计数电路配置为在从所述比较器中的所述比较开始到所述比较器中的所述检测的时段中执行计数过程,并根据所述计数过程的所述执行输出计数值作为数字图像信号。

5.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,所述校正电路配置为根据所述负电压电源的电压的波动来校正所述参考信号。

6.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,

所述校正电路包括电容器和电压-电流转换电路,

所述电容器配置为将所述负电位的波动量传输到所述电压-电流转换电路,且

所述电压-电流转换电路配置为根据所述负电位的所述波动量输出用作校正信号的电流。

7.根据权利要求1所述的光检测装置,其还包括:

布置成矩阵的多个像素,其中,所述多个像素中的每个像素配置为输出所述像素信号;以及

多个模数转换单元,其中,所述多个模数转换单元中的每个模数转换单元配置为将所述多个像素的各个像素输出的所述像素信号转换为数字图像信号。

8.根据权利要求1所述的光检测装置,其中,

所述像素还包括连接至所述浮动扩散区域的复位晶体管,

所述开关电路还包括第二开关,且

所述第二开关连接至所述复位晶体管的栅极。

9.一种光检测装置,包括:

像素,其配置为输出像素信号,其中,所述像素包括:

光电转换区域;

浮动扩散区域,其连接至所述光电转换区域;和

复位晶体管,其连接至所述浮动扩散区域;

垂直信号线,其配置为传输所述像素信号;

开关电路,其包括连接至所述复位晶体管的栅极的第一开关;以及

负电压电源,其连接至所述开关电路,

其中,所述负电压电源配置为生成负电位,且

所述复位晶体管的所述栅极配置为通过所述第一开关选择性地连接至所述负电位或电源电位。

10.根据权利要求9所述的光检测装置,其还包括:

参考信号发生电路,其配置为生成参考信号;

校正电路,其连接在所述负电压电源和所述参考信号发生电路之间;以及

比较器,其配置为比较所述像素信号和所述参考信号。

11.根据权利要求10所述的光检测装置,其中,所述比较器还配置为根据所述像素信号和所述参考信号的所述比较来执行所述像素信号和所述参考信号之间的匹配的检测。

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