[发明专利]一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法在审

专利信息
申请号: 202110685955.5 申请日: 2021-06-21
公开(公告)号: CN113403650A 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 杨光;李月;陈菊;惠越 申请(专利权)人: 集美大学
主分类号: C25D1/22 分类号: C25D1/22;C25D3/08;C25D5/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森
地址: 361021 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 离散 晶核 提高 脱模剂 均匀 方法
【权利要求书】:

1.一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于包括以下步骤:

1)配制脱模剂溶液:在烧杯中加入去离子水,将重铬酸钾粉末加入烧杯中,搅拌;

2)配置电镀液:将硫酸铬、氯化铵、硼酸、甘氨酸药品加入电沉积槽中,然后向槽中加入去离子水,搅拌;

3)电沉积Cr离散晶核:将铜片固定在阴极板上接入电源负极,以钛篮为阳极接入电源正极,调节电流大小,调节加热温度,进行电沉积得Cr金属的离散晶核,根据极化曲线计算芯模表面的晶核密度。

2.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤1)中,所述去离子水的温度可为20~25℃。

3.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤1)中,所述重铬酸钾的加入量按质量百分比可为水的为5%~10%;所述重铬酸钾的质量-体积浓度可为50g/L~100g/L。

4.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤1)中,所得脱模剂溶液在20~25℃条件下静置1h。

5.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤2)中,所述硫酸铬的质量-体积浓度可为20g/L~40g/L,氯化铵的质量-体积浓度可为200g/L~400g/L,硼酸的质量-体积浓度可为60g/L~100g/L,甘氨酸的质量-体积浓度可为20g/L~50g/L。

6.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤2)中,所述去离子水的温度为20~25℃;所得电镀液pH为3.0~3.5。

7.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤2)中,所得电镀液在20~25℃条件下静置8~15h。

8.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤3)中,所述电流密度为5~10A/dm2;所述电沉积的时间为5~15s。

9.如权利要求1所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于在步骤3)中,所述加热温度为40~50℃。

10.如权利要求9所述一种利用离散晶核提高脱模剂涂覆均匀性的方法,其特征在于所述加热温度为43℃。

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