[发明专利]定量表征中高碳盘条中心偏析的方法

权利要求书

1.一种定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)对盘条横截面进行前处理；

2)对盘条横截面进行显微硬度测量，记录盘条横截面的显微硬度测量结果；

3)统计硬度测量结果的均值、极大值，根据均值、极大值计算偏差率；偏差率的计算方法如下：

4)根据偏差率来表征盘条横截面的中心偏析级别；若偏差率≤9％，则盘条中心偏析级别为1级；若9％＜偏差率≤14％，则盘条中心偏析级别为2级；若14％＜偏差率≤24％，则盘条中心偏析级别为3级；若24％＜偏差率≤32％，则盘条中心偏析级别为4级；若偏差率＞32％，则盘条中心偏析级别为5级。

2.根据权利要求1所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述步骤1)中，前处理为对盘条横截面进行镶嵌、金相砂纸逐级磨制和机械抛光。

3.根据权利要求1所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述步骤2)中，以盘条横截面几何中心为中心点进行显微硬度测量，测量位置选取通过盘条横截面几何中心的N条线段作为测量线段，测量线段的条数N≥2。

4.根据权利要求3所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述测量线段之间的夹角为180°/N，其中N为测量线段的条数。

5.根据权利要求4所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述测量线段上选取若干个测量点。

6.根据权利要求5所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：相邻两个所述测量点的间隔为0.5～1mm。

7.根据权利要求6所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述测量线段起始于盘条横截面表面，经过盘条横截面几何中心，终止于对称的另一侧盘条横截面表面。

8.根据权利要求7所述的定量表征中高碳盘条中心偏析的方法，其特征在于：所述测量点的测量起始点和终止点距离盘条表面距离为1～2mm。