[发明专利]SSD的自动化测试系统及方法在审
申请号: | 202110694639.4 | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN113407402A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 邬东东;蒋能军;闵艳鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳豪杰创新电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/26 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 徐丽 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃源*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ssd 自动化 测试 系统 方法 | ||
1.一种SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述SSD自动化测试系统包括工控机,以及与所述工控机连接的至少一个PC机和PLC控制系统;所述工控机预先存储有每个所述PC机的标识;所述PLC控制系统还包括PLC设备,以及与所述PLC设备连接的传动设备;
所述工控机用于响应作用于所述SSD的自动化测试系统的启动操作,向所述PLC设备发送触发信号,以触发所述PLC设备控制所述传动设备将待测试SSD从预设的放置区域传动到预设的测试区,以使所述待测试SSD与所述PC机电连接;
所述PLC设备用于监测所述待测试SSD放置到所述测试区的确认信号,并在监测到所述确认信号之后向所述工控机发送连接指令;
所述工控机还用于在接收到所述连接指令时,向至少一个所述PC机发送测试指令;
所述PC机用于在接收到所述测试指令之后,按照预设的测试逻辑启动预先存储的测试算法,以对所述测试区的所述待测试SSD进行自动化测试。
2.根据权利要求1所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,预设的所述放置区用于放置多个按照预设阵列排布的所述待测试SSD;所述测试区配置有用于固定所述待测试SSD的固定治具;
所述固定治具包括互相配合的第一测试治具和第二测试治具,其中,所述第一测试治具用于固定所述待测试SSD,所述第二测试治具用于当所述待测试SSD固定在所述第一测试治具时,使所述待测试SSD与对应的所述PC机电连接。
3.根据权利要求2所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述第一测试治具包括至少一个用于固定所述待测试SSD的测试槽;
每个所述测试槽配置有第一测试接口,当所述待测试SSD放置到所述测试槽时,所述第一测试接口与所述待测试SSD电连接。
4.根据权利要求3所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述第二测试治具包括至少一个与所述第一测试接口对应的第二测试接口;
所述第二测试接口还与所述PC机的测试接口连接,以便于当所述待测试SSD固定在所述第一测试治具时,通过所述第一测试接口和所述第二测试接口使所述待测试SSD与对应的所述PC机电连接。
5.根据权利要求2所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述SSD的自动化测试系统还配置有与所述PLC设备连接的高温测试系统;
所述第二测试治具设置在所述高温测试系统对应的区域内,用于在所述PLC设备的控制下对所述待测试SSD进行高温可靠性测试。
6.根据权利要求1所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述SSD的自动化测试系统还配置有自动回收装置;
所述PC机还用于在所述待测试SSD进行自动化测试过程中,如果监测到测试失败信号,将所述测试失败信号发送至所述工控机;
所述工控机还用于在接收到所述测试失败信号之后,触发所述PLC设备控制所述传动设备将发送所述测试失败信号的所述PC机对应的所述待测试SSD传动至所述自动回收装置。
7.根据权利要求6所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述PC机中预先存储的测试算法包括以下测试算法至少之一:预设逻辑的开卡算法、高温可靠性测试算法、常温测试算法;
所述PC机还用于在启动任一测试算法时,如果监测到测试失败信号,则将所述测试失败信号发送至所述工控机;或者,在所述开卡算法对应的任一开卡过程中,如果监测到测试失败信号,则将所述测试失败信号发送至所述工控机。
8.根据权利要求7所述的SSD的自动化测试系统,其特征在于,所述SSD的自动化测试系统还配置有合格品放置区;
所述PC机还用于在所述待测试SSD的自动化测试过程结束之后,向所述工控机发送测试完成信号;
所述工控机还用于在接收到所述测试完成信号之后,触发所述PLC设备控制所述传动设备将发送所述测试完成信号的所述PC机对应的所述待测试SSD传动至所述合格品放置区。
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