[发明专利]一种硅碳球中硅含量的测定方法在审
申请号: | 202110699294.1 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113514486A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 王德洲;李文生;章祝雄;郭质江;姜小露 | 申请(专利权)人: | 武钢集团昆明钢铁股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/2202 |
代理公司: | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人: | 赛晓刚 |
地址: | 650302 云南省*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅碳球中硅 含量 测定 方法 | ||
1.一种硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,硅碳球标准物质的配制
将硅碳球标准物质YSBC 25611-93硅铁标样和ZBM 129A焦炭标样按比例称取适当重量,在研磨器中研磨混匀配制成多种不同硅含量的硅碳球标准物质;
步骤2,压片制样
取一定量的步骤1中配置的硅碳球标准物质和硅碳球待测试样分别制样;利用压片机及粘结剂,将试样压制成片状;
步骤3,X射线荧光光谱仪分析条件的选择和设置
采用真空光路,直径27mm钢罩,Kα谱线,电压为60kV,电流为50mA,探测器为流气正比探测器,测定时间为40秒;
步骤4,建立工作曲线
用X射线荧光光谱仪分别测定步骤1中所述的硅碳球标准物质硅含量,根据所述硅碳球标准物质的已知含量和测定强度,绘制工作曲线并进行基体校正、谱线重叠干扰校正,建立工作曲线;
步骤5,硅碳球待测试样测定
用X射线荧光光谱仪测定所述硅碳球待测试样中硅元素的荧光强度,读取硅含量数据并记录,获得测定结果。
2.根据权利要求1所述的硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于,在步骤1中:
所述多种不同硅含量的硅碳球标准物质是将硅碳球标准物质YSBC 25611-93硅铁标样和ZBM 129A焦炭标样按照1~7:1的比例称取适当重量并配置七种不同硅含量的硅碳球标准物质。
3.根据权利要求2所述的硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于:
所述七种不同硅含量的硅碳球标准物质的硅含量分别为38.00%、50.67%、57.00%、60.80%、63.33%、65.14%和66.50%。
4.根据权利要求1所述的硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于,在步骤5中:
对每种试样进行9次测定,取平均值作为测定结果。
5.根据权利要求1至4任一项所述的硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于,在步骤2中:
所述粘结剂采用工业硼酸。
6.根据权利要求1至4任一项所述的硅碳球中硅含量的测定方法,其特征在于,在步骤2中:
所述压片机采用YYJ-40型压片机。
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