[发明专利]一种高精密金刚石抛光片的制备方法有效
申请号: | 202110699522.5 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113430498B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 于盛旺;吴艳霞;黑鸿君;高洁;郑可;马永;周兵;王永胜 | 申请(专利权)人: | 太原理工大学 |
主分类号: | C23C16/02 | 分类号: | C23C16/02;C23C16/27 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人: | 王思俊 |
地址: | 030024 山西*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 金刚石 抛光 制备 方法 | ||
1.一种高精密金刚石抛光片的制备方法,包括以下步骤:
A. 预图形化:利用激光烧蚀技术在抛光后的、光滑洁净的SiC基体表面进行图案化处理,获得具有不同柱状阵列图案的图形化基体;激光频率4~20 KHz,激光轴向速度20~200μm/s,烧蚀的厚度100~200 μm;
B. 等离子体刻蚀:将预图形化的SiC基体置入微波等离子体化学气相沉积装置中,通入氧气和氢气,开启设备,激发形成氧和氢的复合等离子体,利用等离子体清洁基体表面,同时产生刻蚀作用,将柱状阵列转化为尖锥阵列;等离子体刻蚀的工艺参数为:气压2~8kPa,微波功率 1~3 kW,基体温度600~1000 ℃,氢气流量为300-600 sccm,氧气流量为氢气流量的1~10%;
C. 制备纳米金刚石涂层:上述等离子体清洁步骤完成后,停止通入氧气,通入含碳气体同时调节氢气流量,在图形化基体表面沉积纳米金刚石膜,最终在SiC基体表面制备由纳米金刚石包覆的尖锥阵列的高精密金刚石抛光片。
2.根据权利要求1所述的高精密金刚石抛光片的制备方法,其特征在于:在步骤A中,烧蚀图案可为矩形阵列或同心圆阵列,其中图案单个图形为三角形、圆形或多边形等中的任意一种,相邻单个图形的间距为50-200 μm。
3.根据权利要求1所述的高精密金刚石抛光片的制备方法,其特征在于:在步骤C中,含碳气体是CH4或C2H2中的任意一种,腔体气压 2000~8000 Pa,氢气流量为100-200 sccm,CH4或C2H2与H2的气体体积流量比1:1~1:5,微波功率2~60 kW,基体温度600~1000 ℃,制备纳米金刚石的厚度10 μm~200 μm,粒径为10~100 nm。
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