[发明专利]存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质

说明书

本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗，提高掉电测试效率。

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，具体地涉及一种存储装置掉电保护的测试方法、一种存储装置掉电保护的测试装置以及一种计算机可读存储介质。

背景技术

非易失性存储器是芯片在实现功能时必备的物理器件，用于存储各类文件、密钥、交易日志、应用数据甚至程序代码等重要信息和资产，其所承载的数据信息的稳定性和可靠性对于整个芯片的正常使用至关重要。

芯片在使用过程中，由于使用环境的复杂变化，会因为各种意外而遭遇停电、虚接等情况的发生，而此时芯片正处于运行过程中，因此会不可避免遭遇重大影响，尤其针对非易失性存储器，将会导致如数据丢失、存储器损坏等情况的发生，将会为用户的使用或存储器的寿命等造成极大的影响，因此需要建立合理有效的测试环境以对存储器掉电保护功能的实现进行评估。

在现有的测试方法中，主要通过采用低间隔的掉电间隔的方法对存储器进行测试，以及通过对接收的指令进行直接处理以执行对应的测试操作。然而在实际应用过程中，一方面，随着技术的不断发展，低间隔的测试时间间隔会导致测试时间不断增大；另一方面，由于测试环节较多，因此每个测试环节所需要的时间较多，因此现有的测试流程耗时较长，测试效率较低，为技术人员造成了极大的困扰。

发明内容

为了克服现有技术中存在的上述技术问题，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试方法，通过对掉电测试过程中的测试流程以及测试参数均进行优化，并根据优化后的测试参数以及用户后的测试流程执行掉电测试操作，从而有效减少了测试时间消耗，提高了测试效率。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种存储装置掉电保护的测试方法，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。

优选地，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：获取所述测试信息的时长信息；获取存储装置的设计信息；基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。

优选地，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段，包括：基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。

优选地，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。