[发明专利]一种集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法

说明书

本发明公开了一种集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法，包括预冷箱盖板，所述预冷箱盖板的内部中端设置有转盘；TRAY盘，其设置于所述转盘的上端四周；滑台气缸，其设置于所述预冷箱盖板的外壁一侧；滑动密封机构，其设置于所述滑台气缸的外部一侧。该集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法，L型滑动门是方便自动化存取待检测的集成电路，L型滑动门是由安装在预冷箱腔体一侧滑台气缸控制，L型滑动门被滑台气缸驱动进行前后运动，实现自动取料、补料的同时，降少预冷箱腔体内部与外界的干涉，利用L型滑动门便于自动化取放IC，即当L型滑动门移动离开进出口时，机械手臂进行取放IC，完成取放IC后L型滑动门复位到进出口上方，进行密封。

技术领域

本发明涉及一种集成电路低温测试技术领域，具体为一种集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法。

背景技术

现今随着军品及高端民品IC品质要求的提高，迫切需要全自动高、低温检测平台，严格全程模拟真实的高温或者低温测试环境，满足国防军工及高端民品IC筛选生产的严苛要求。目前国内对此一体机缺乏，多以手工操作或者采购昂贵的国外设备来满足需求，手工操作对检测环境的真实性相对较差，并且还存在凝露问题。

尤其近些年汽车电子的大量发展，对IC的需求不断提出新的严苛要求，而此类产品多半是用量大且检测时间较长，因此对IC进行高温或者低温检测的时候不急需要真实性还需要有一定的检测效率。而IC在高温、低温测试前都需要进行预冷，为了提升检测效率，就需要研制一款可以循环的预热、预冷箱来配合自动化生产提升检测效率，来应对检测不精确的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法，以解决上述背景技术中提出的尤其近些年汽车电子的大量发展，对IC的需求不断提出新的严苛要求，而此类产品多半是用量大且检测时间较长，因此对IC进行高温或者低温检测的时候不急需要真实性还需要有一定的检测效率。而IC在高温、低温测试前都需要进行预冷，为了提升检测效率，就需要研制一款可以循环的预热、预冷箱来配合自动化生产提升检测效率，来应对检测不精确的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路低温检测预冷箱装置及其使用方法，包括：

预冷箱盖板，所述预冷箱盖板的内部中端设置有转盘；

TRAY盘，其设置于所述转盘的上端四周；

滑台气缸，其设置于所述预冷箱盖板的外壁一侧；

滑动密封机构，其设置于所述滑台气缸的外部一侧和预冷箱盖板的内部上端连接处；

预冷箱腔体，其设置于所述预冷箱盖板的下端底部；

DD电机，其设置于所述预冷箱腔体的下端底部；

所述滑动密封机构包括：

L型滑动门，其滑动设置于所述预冷箱盖板的内部一侧；

滑槽，其开设于所述L型滑动门的外壁两侧与所述预冷箱盖板之间相嵌合；

所述L型滑动门通过滑槽和预冷箱盖板构成滑动结构，且L型滑动门和预冷箱盖板间尺寸相互配合。

优选的，所述预冷箱盖板和预冷箱腔体之间构成活动结构，且预冷箱盖板和预冷箱腔体尺寸相互配合。

优选的，所述预冷箱盖板和转盘构成包裹结构，且转盘呈水平状分布。

优选的，所述预冷箱腔体的一端与制冷机相连接，且预冷箱腔体上方设置有开孔。

优选的，所述预冷箱腔体和DD电机构成固定结构，且DD电机和转盘之间相连接。

优选的，所述TRAY盘沿转盘的中轴线处呈对称状分布，且TRAY 盘设置有十二组。