[发明专利]一种荧光光谱特征波长筛选方法、装置、计算机设备及可读储存介质在审
申请号: | 202110702318.4 | 申请日: | 2021-06-21 |
公开(公告)号: | CN113435115A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 胡锋;周孟然;闫鹏程;来文豪;卞凯;朱梓伟;司梦婷;钱亚丽;罗洲宇 | 申请(专利权)人: | 安徽理工大学 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06N3/00;G06F111/08 |
代理公司: | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人: | 卢会刚 |
地址: | 232001 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 光谱 特征 波长 筛选 方法 装置 计算机 设备 可读 储存 介质 | ||
本发明公开了一种荧光光谱特征波长筛选方法、装置、计算机设备及可读储存介质,包括:采集多个待测样品的原始荧光光谱数据,对原始荧光光谱进行标准正态变量变换处理,得到处理后的荧光光谱,使用间隔偏最小二乘法对处理后的荧光光谱进行波段筛选,得到荧光光谱的特征波段,使用布谷鸟搜索算法对荧光光谱的特征波段进行特征波长筛选,得到荧光光谱的特征波长。该装置可以保证荧光光谱特征波长筛选的可靠性。
技术领域
本发明涉及荧光光谱分析技术领域,更具体的涉及一种荧光光谱特征波长筛选方法、装置、计算机设备及可读储存介质。
背景技术
光谱分析技术是近年来发展起来的一种快速无损检测技术,可在生产过程中实时获得样品的客观品质信息,因此,其在过程分析、在线质量监控中都发挥着极其重要的作用。荧光光谱分析技术作为光谱分析的一个重要组成部分,近些年来荧光光谱分析法在理论和应用方面有了较大的进步与发展,各种新型荧光分析仪器的问世,使得荧光光谱分析方法和技术不断朝着高效、痕量、微观、实时、原位和自动化的方向发展,方法的灵敏度、准确度和选择性日益提高,方法的应用范围也大大扩展,遍及工业、农业、生命科学、环境科学、材料科学、食品科学和公安情报等诸多领域。
在建立光谱检测模型时所用到的波长对模型的精度有很大的影响。挑选对模型有用的波长,一方面可以减少计算量,提高分析的速度;另一方面也可以减少错误信息被引入模型中,提高分析的精度。目前常用的波长挑选技术多数所挑选出的是若干个波段,每个波段中仍含有大量波长,相近的波长在数据信息上有一定的重合,不利于简化数据计算和提高模型精度。
发明内容
本发明实施例提供一种荧光光谱特征波长筛选方法、装置、计算机设备及可读储存介质,用以解决上述背景技术中提出的问题。
本发明实施例提供一种荧光光谱特征波长筛选方法、装置、计算机设备及可读储存介质,用以提高光谱采集的可靠性。
本发明实施例提供的具体技术方案如下:
本发明实施例提供了种荧光光谱特征波长筛选方法,步骤包括:
采集多个待测样本的原始荧光光谱数据。
对采集到的原始荧光光谱数据,采用标准正态变量变换进行处理,得到光滑后的荧光光谱。
使用间隔偏最小二乘法模型,对光滑后的荧光光谱进行波段筛选和排序,得到荧光光谱的特征波段。
使用布谷鸟搜索算法,从荧光光谱的特征波段中筛选出荧光光谱特征波长。
进一步,标准正态变量变换采用下面公式进行:
其中,Fluorescence_Spectrumi为标准正态变量变换处理后第i个样本的荧光光谱,Raw_Datai,k为第i个样本的原始荧光光谱的第k个光谱数据,为第i个样本荧光光谱的平均值,k=1,2,…,3648,i=1,2,…,N。
进一步,荧光光谱的特征波段筛选步骤包括:
将标准正态变量变换SNV处理后得到的荧光光谱数据按照波长分成K1个同等宽度的间隔区间。其中K1≤3648。
对间隔偏最小二乘法回归iPLS模型的交叉验证均方根误差RMSECV进行计算,计算公式为:
其中,RMSECVKi1为基于第Ki个间隔区间数据构建PLS模型的RMSECV,Ki1=1,2,…,K1,Y1_PREi为第i个样本的预测值,Yi为第i个样本的实际值,N为样本数量。
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