[发明专利]基于样本分布特征和SPY算法的软件缺陷预测方法有效
申请号: | 202110703322.2 | 申请日: | 2021-06-24 |
公开(公告)号: | CN113434401B | 公开(公告)日: | 2022-10-28 |
发明(设计)人: | 陈滨;俞坚强;方景龙 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06K9/62 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杨舟涛 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 样本 分布 特征 spy 算法 软件 缺陷 预测 方法 | ||
1.基于样本分布特征和SPY算法的软件缺陷预测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1)基于软件缺陷数据集提取样本特征;包括获取样本不平衡度、获取同类样本之间的平均距离和获取样本方差;
步骤2)自适应边界k值计算,根据k近邻算法选择边界样本;
a)自适应边界k值计算
不同数据集的分布特征都不相同,k的取值需要根据数据集的分布特征来自适应调整;根据整体数据集的分布情况,从距离和方差两个角度出发,提出了k值的两种计算公式;为了防止边界k过大或者过小,将k值约束了范围,在5至15之间;
从样本个体的距离出发,结合样本整体不平衡率,得到了以下的公式;
s.t.k1∈[5,15]
式中imblance为样本不平衡率,dpaverage为少数类样本之间的平均距离,dnaverage为多数类样本之间的平均距离;
从两类样本总体的方差角度出发,结合样本整体的不平衡率,得到了k值的另一个计算公式:
s.t.k2∈[5,15]
式中imblance为样本不平衡率,SP为少数类样本的总体方差,SN为多数类样本的总体方差;
b)边界样本选择
根据得到的边界k值,使用K近邻算法计算每个少数类样本周围的k个近邻样本;在这k个近邻样本中,如果多数类样本的个数多于少数类样本的个数,且近邻少数类样本的个数不为0,则被选为少数类边界样本;
步骤3)对少数类样本进行k近邻运算,计算得到少数类样本周围的近邻样本;对于每一个少数类样本而言,如果其近邻样本中少数类样本的个数大于多数类样本的个数,则说明该样本处于相对较安全的区域,此时,这些近邻样本中的多数类样本视为SPY样本;选择少数类样本周围的SPY样本,使用SPY样本引导边界区域的少数类样本更好地分类,以此来提高整体的软件缺陷预测水平;
步骤4)在边界少数类样本中进行过采样,来平衡数据集;
步骤5)对SPY样本和其他样本分别设置训练权重;
将SPY样本的训练权重设置为0.5,将其他样本的权重都设置为1;权重的控制使得SPY样本在引导边界少数类样本正确分类的同时,减轻对边界区域多数类样本的分类影响,整体上提升总体的分类预测效果;
步骤6)使用机器学习模型进行数据集的训练及预测。
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