[发明专利]基于样本分布特征和SPY算法的软件缺陷预测方法有效

专利信息
申请号: 202110703322.2 申请日: 2021-06-24
公开(公告)号: CN113434401B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 陈滨;俞坚强;方景龙 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K9/62
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人: 杨舟涛
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 样本 分布 特征 spy 算法 软件 缺陷 预测 方法
【权利要求书】:

1.基于样本分布特征和SPY算法的软件缺陷预测方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1)基于软件缺陷数据集提取样本特征;包括获取样本不平衡度、获取同类样本之间的平均距离和获取样本方差;

步骤2)自适应边界k值计算,根据k近邻算法选择边界样本;

a)自适应边界k值计算

不同数据集的分布特征都不相同,k的取值需要根据数据集的分布特征来自适应调整;根据整体数据集的分布情况,从距离和方差两个角度出发,提出了k值的两种计算公式;为了防止边界k过大或者过小,将k值约束了范围,在5至15之间;

从样本个体的距离出发,结合样本整体不平衡率,得到了以下的公式;

s.t.k1∈[5,15]

式中imblance为样本不平衡率,dpaverage为少数类样本之间的平均距离,dnaverage为多数类样本之间的平均距离;

从两类样本总体的方差角度出发,结合样本整体的不平衡率,得到了k值的另一个计算公式:

s.t.k2∈[5,15]

式中imblance为样本不平衡率,SP为少数类样本的总体方差,SN为多数类样本的总体方差;

b)边界样本选择

根据得到的边界k值,使用K近邻算法计算每个少数类样本周围的k个近邻样本;在这k个近邻样本中,如果多数类样本的个数多于少数类样本的个数,且近邻少数类样本的个数不为0,则被选为少数类边界样本;

步骤3)对少数类样本进行k近邻运算,计算得到少数类样本周围的近邻样本;对于每一个少数类样本而言,如果其近邻样本中少数类样本的个数大于多数类样本的个数,则说明该样本处于相对较安全的区域,此时,这些近邻样本中的多数类样本视为SPY样本;选择少数类样本周围的SPY样本,使用SPY样本引导边界区域的少数类样本更好地分类,以此来提高整体的软件缺陷预测水平;

步骤4)在边界少数类样本中进行过采样,来平衡数据集;

步骤5)对SPY样本和其他样本分别设置训练权重;

将SPY样本的训练权重设置为0.5,将其他样本的权重都设置为1;权重的控制使得SPY样本在引导边界少数类样本正确分类的同时,减轻对边界区域多数类样本的分类影响,整体上提升总体的分类预测效果;

步骤6)使用机器学习模型进行数据集的训练及预测。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110703322.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top