[发明专利]芯片SLT测试的软件实现方法及系统

说明书

本发明公开了一种芯片SLT测试的软件实现方法及系统，涉及芯片测试技术领域，解决了SLT测试软件的移植率不高的技术问题，其技术方案要点是将SLT测试软件作为组件运行在待测SOC芯片的操作系统之上，与系统软件解耦，方便移植。在SOC开发板的配合下，实现在芯片真实运行的软硬件环境下进行SLT测试。本发明的SLT测试软件的测试用例的实现是独立开发的，测试用例的软件实现人员不用修改SLT测试软件的实现，单独实现测试用例即可，保证软件的稳定性。并且单个测试用例内部的bug不会导致整个SLT的测试卡死，保证软件的健壮性。

技术领域

本公开涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片SLT测试的软件实现方法及系统。

背景技术

目前芯片生产过程中，Final Test分为ATE（Automatic Test Equipment）和SLT（System Level Test）。SLT即系统级别测试，一般的测试方法是把封装好的芯片安装到测试板上，启动专用SLT测试软件或者常规的系统软件等，记录测试结果。SLT测试的主要目的是提高芯片出厂的良率。

随着系统级芯片（SOC）越来越复杂，用于芯片SLT测试的软件也越来越复杂。一般的芯片，通常是专用小系统SLT测试软件就可以满足需求。复杂的SOC芯片，没有统一的标准，一般是基于常规的操作系统进行软件定制，例如在异构多核的芯片测试上,需要反复定制开发,并且存在测试覆盖率低或者测试软件自身不稳定、可移植性差等缺点。

发明内容

本公开提供了一种芯片SLT测试的软件实现方法及系统，其技术目的是提高芯片SLT测试软件的测试覆盖率，实现SLT测试软件的可移植性。

本公开的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种芯片SLT测试的软件实现方法，该芯片SLT测试通过SLT测试软件实现，所述SLT测试软件运行在待测SOC芯片的操作系统上，所述待测SOC芯片放置在SOC开发板上，所述SOC开发板与SLT测试机台PC连接，所述SLT测试机台PC上装有SLT测试管理软件，所述SLT测试管理软件与所述SLT测试软件连接，所述方法包括：

所述SLT测试软件分别对所述待测SOC芯片的每个测试用例进行测试，得到测试结果，并将所述测试结果返回给所述SLT测试管理软件；其中，所述测试用例独立于所述SLT测试软件而开发。

一种芯片SLT测试的软件实现系统，包括：

SLT测试机台PC，装有SLT测试管理软件；

SOC开发板，所述SOC开发板上放置待测SOC芯片；

所述SOC开发板与所述SLT测试机台PC连接，所述待测SOC芯片的操作系统上运行有SLT测试软件，所述SLT测试管理软件与所述SLT测试软件连接，所述SLT测试软件分别对所述待测SOC芯片的每个测试用例进行测试，得到测试结果，并将所述测试结果返回给所述SLT测试管理软件；其中，所述测试用例独立于所述SLT测试软件而开发。

本公开的有益效果在于：本发明将SLT测试软件作为组件运行在待测SOC芯片的操作系统之上，与系统软件解耦，方便移植。在SOC开发板的配合下，实现在芯片真实运行的软硬件环境下进行SLT测试。本发明的SLT测试软件的测试用例的实现是独立开发的，测试用例的软件实现人员不用修改SLT测试软件，单独实现测试用例即可，保证软件的稳定性。并且单个测试用例内部的bug不会导致整个SLT的测试卡死，保证软件的健壮性。

本申请的芯片测试中，在所有的核心内，分别将各自核心的所有测试用例跑完，返回结果。也就是说，本申请每个核心测试用例的测试都是独立进行的，每个核心可以对不同的测试用例同时且独立的进行测试，互不干扰，可以提高测试效率。

附图说明

图1为本公开所述的芯片SLT测试的软件实现系统的示意图；