[发明专利]一种用于测定复杂接触面摩擦系数的高精度直接测试方法有效

专利信息
申请号: 202110708671.3 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113533196B 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 胡少伟;薛翔;齐浩;单常喜;田锌如;王滔;牟钊 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N19/02 分类号: G01N19/02
代理公司: 重庆缙云专利代理事务所(特殊普通合伙) 50237 代理人: 王翔;李健
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测定 复杂 接触面 摩擦系数 高精度 直接 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测定复杂接触面摩擦系数的高精度直接测试方法,其特征在于:基于一种用于测定复杂接触面摩擦系数的高精度直接测试系统,该系统包括基座(1)、侧挡板Ⅰ(2)、滑台(3)、伺服电机(6)、材料A夹具(10)、水平滑轨(23)和侧挡板Ⅱ(24);

所述基座(1)上固接有水平滑轨(23)以及均竖直设置的侧挡板Ⅰ(2)和侧挡板Ⅱ(24),侧挡板Ⅰ(2)和侧挡板Ⅱ(24)分别连接到水平滑轨(23)的两端且均与水平滑轨(23)垂直;

所述水平滑轨(23)上安装有滑台(3),滑台(3)上设置有与丝杆(5)相匹配的螺纹孔;

所述侧挡板Ⅱ(24)背离侧挡板Ⅰ(2)的一侧连接有伺服电机(6),伺服电机(6)与驱动器(13)连接,驱动器(13)与控制器(14)连接,控制器(14)与上位机(16)连接;

所述伺服电机(6)的输出端穿过侧挡板Ⅱ(24)并与丝杆(5)固接,丝杆(5)与水平滑轨(23)平行且位于水平滑轨(23)正上方,丝杆(5)穿过滑台(3)上的螺纹孔以及侧挡板Ⅰ(2);

所述滑台(3)的上表面固定有膜式压力传感器(4),膜式压力传感器(4)上固定压板(25);

所述压板(25)的正上方设置有材料A夹具(10),材料A夹具(10)为水平设置的长方体结构,材料A夹具(10)的内部中空且下端敞口,材料A夹具(10)的长度方向与水平滑轨(23)平行;

所述材料A夹具(10)的上表面设置有夹具顶部滑槽(21),夹具顶部滑槽(21)与水平滑轨(23)平行且穿过材料A夹具(10)上表面的中心点;

滑板(12)滑动连接在所述夹具顶部滑槽(21)内,滑板(12)为矩形板,滑板(12)的长度方向与夹具顶部滑槽(21)垂直;所述滑板(12)上滑动连接有配重块基台(26);

所述材料A夹具(10)面向侧挡板Ⅰ(2)的侧壁上设置有水平的夹具侧面滑槽(20),夹具铰支座(19)滑动连接在夹具侧面滑槽(20)内;

所述侧挡板Ⅰ(2)上开设有竖直通槽,单轴向拉力传感器(8)的一端与竖直通槽滑动连接,另一端通过单轴向拉力传感器铰支座(18)与连接杆(9)铰接,连接杆(9)与夹具铰支座(19)铰接;所述膜式压力传感器(4)和单轴向拉力传感器(8)均与动态采集仪(15)连接,动态采集仪(15)与上位机(16)连接;

所述方法包括以下步骤:

1)加工出摩擦副材料A(17)和摩擦副材料B(7);其中,所述摩擦副材料A(17)的下表面与摩擦副材料B(7)的上表面为摩擦副的实际接触面,摩擦副材料B(7)呈长条形;

2)根据所选的摩擦副材料特性或需测定实际工作条件,模拟出相应的试验环境,将所述摩擦副材料A(17)和摩擦副材料B(7)放置在该试验环境内并持续特定时间;

3)在步骤2)中模拟出的试验环境内安装好测试系统,并将摩擦副材料A(17)和摩擦副材料B(7)安装在测试系统相应的结构上;其中,先将所述摩擦副材料B(7)固定在压板(25)上,将摩擦副材料A(17)的上端固定在材料A夹具(10)内,下端伸出材料A夹具(10)并与摩擦副材料B(7)接触,并在配重块基台(26)上安装配重块(11),摩擦副材料B(7)的长度方向与水平滑轨(23)的长度方向一致,摩擦副材料B(7)长度方向的两端位于同一水平面上;

4)根据所述摩擦副材料A(17)和摩擦副材料B(7)每个接触点的坐标、接触面的形心坐标或接触线的中点坐标,结合摩擦副材料A(17)和材料A夹具(10)的整体重心坐标,计算出配重块(11)、夹具铰支座(19)和单轴向拉力传感器铰支座(18)的坐标,并根据计算出的坐标调整配重块(11)、夹具铰支座(19)和单轴向拉力传感器铰支座(18)的位置,确保整个系统力矩平衡;

5)所述上位机(16)向控制器(14)发送信息,控制器(14)向驱动器(13)发送指令,驱动器(13)控制伺服电机(6)启动,伺服电机(6)带动丝杆(5)转动,滑台(3)在水平滑轨(23)上匀速滑动,摩擦副材料B(7)与摩擦副材料A(17)产生相对运动形成摩擦副,直到滑台(3)滑动到预定长度;所述动态采集仪(15)实时采集膜式压力传感器(4)和单轴向拉力传感器(8)的监测数据,并发送至上位机(16);

6)重复步骤3)~5)M次,在这M次中,步骤3)中所述测试系统的配重块(11)质量均不同,M≥2;

7)重复步骤1)~6)N次,N≥3。

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