[发明专利]集成电路测试方法与系统有效

专利信息
申请号: 202110710546.6 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN113608099B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 宋卫权;张健 申请(专利权)人: 杭州芯讯科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;杨思雨
地址: 310012 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种集成电路测试方法,包括:

按照一定测试比例,采用多个测试配置测试测试周期内的多个集成电路以获得测试数据,根据所述测试数据获得所述测试周期内所述多个集成电路的测试结果,所述测试配置规定至少一个测试项、以及与所述至少一个测试项对应的测试激励和测试规范;

在所述测试步骤中,根据所述测试数据相关的变更条件实时变更所述测试配置,其中,根据所述测试数据相关的变更条件实时变更所述测试配置的方式包括:判定采用第一测试覆盖率对应的测试配置测试的集成电路的失效率小于第六阈值,则减少所述第一测试覆盖率对应的测试配置测试所述测试周期内的所述多个集成电路的电路数量;判定采用第一测试覆盖率对应的测试配置测试的集成电路的失效率大于第七阈值,则增大所述第一测试覆盖率对应的测试配置测试所述测试周期内的所述多个集成电路的电路数量。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法,其中,所述变更条件还包括满足以下条件:

所述多个集成电路属于多个生产批次或同一个生产批次。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试方法,其中,所述多个测试配置具有不同的测试覆盖率。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试方法,其中,所述一定测试比例是一个测试周期内不同测试覆盖率所对应的测试配置所测试的集成电路个数的比例。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试方法,其中,所述第一测试覆盖率是所述多个测试配置中测试覆盖率最高的测试配置的测试覆盖率。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试方法,其中,所述测试周期为采用所述多个测试配置按照所述一定测试比例测试一次集成电路的总个数。

7.一种集成电路测试系统,其中,按照一定测试比例,采用多个测试配置测试测试周期内的多个集成电路以获得测试数据,根据所述测试数据获得所述测试周期内所述多个集成电路的测试结果,所述测试配置规定至少一个测试项、以及与所述至少一个测试项对应的测试激励和测试规范,所述集成电路测试系统包括:

激励单元,根据所述测试配置向所述多个集成电路提供测试激励;

分析单元,根据所述测试配置对所述多个集成电路的测试数据进行比较分析;

评估单元,与所述分析单元相连接,根据所述比较分析的结果评估集成电路的测试结果;以及

配置更新单元,与所述分析单元相连接以提供所述测试配置对应的测试数据的信息,在测试步骤中,所述配置更新单元根据所述测试数据相关的变更条件实时变更所述测试配置,其中,根据所述测试数据相关的变更条件实时变更所述测试配置的方式包括:判定采用第一测试覆盖率对应的测试配置测试的集成电路的失效率小于第六阈值,则减少所述第一测试覆盖率对应的测试配置测试所述测试周期内的所述多个集成电路的电路数量;判定采用第一测试覆盖率对应的测试配置测试的集成电路的失效率大于第七阈值,则增大所述第一测试覆盖率对应的测试配置测试所述测试周期内的所述多个集成电路的电路数量。

8.根据权利要求7所述的集成电路测试系统,其中,所述变更条件还包括满足以下条件:

所述多个集成电路属于多个生产批次或同一个生产批次。

9.根据权利要求7所述的集成电路测试系统,其中,所述多个测试配置具有不同的测试覆盖率。

10.根据权利要求7所述的集成电路测试系统,其中,所述一定测试比例是一个测试周期内不同测试覆盖率所对应的测试配置所测试的集成电路个数的比例。

11.根据权利要求7所述的集成电路测试系统,其中,所述第一测试覆盖率是所述多个测试配置中测试覆盖率最高的测试配置的测试覆盖率。

12.根据权利要求7所述的集成电路测试系统,其中,所述测试周期为采用所述多个测试配置按照所述一定测试比例测试一次集成电路的总个数。

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