[发明专利]一种三维建模细节增强方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110713305.7 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113421292A 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 郭建亚;李骊 申请(专利权)人: 北京华捷艾米科技有限公司
主分类号: G06T7/40 分类号: G06T7/40;G06T7/50;G06T15/04;G06T17/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张影
地址: 100193 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 建模 细节 增强 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种三维建模细节增强方法,其特征在于,包括:

获取拍摄对象的初始三维几何模型,以及与该初始三维几何模型对应的纹理贴图模型;其中,所述初始三维几何模型包含拍摄对象的深度信息;

对所述初始三维几何模型以及所述纹理贴图模型进行二维参数化处理,得到二维参数表示的几何模型和纹理贴图模型;

基于二维参数的纹理贴图模型,以及二维参数的几何模型,计算得到所述拍摄对象的包含细节的三维形状参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于二维参数的纹理贴图模型,以及二维参数的几何模型,计算得到所述拍摄对象的包含细节的三维形状参数,包括:

基于二维参数的纹理贴图模型,计算得到所述拍摄对象的三维形状参数;

基于二维参数的几何模型,对计算得到的三维形状参数进行校正。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,计算得到的三维形状参数中,至少包括拍摄对象表面亮度参数、拍摄对象深度参数,其中,所述拍摄对象表面亮度,通过拍摄对象表面反射率和光照方向而确定;

所述基于二维参数的几何模型,对计算得到的三维形状参数进行校正,包括:

通过将计算得到的三维形状参数,与二维参数的几何模型进行对比,确定计算误差;其中,所述计算误差用于表示计算得到的三维形状参数与拍摄对象的真实参数的误差;

基于所述计算误差,重新计算所述拍摄对象的三维形状参数;

重复上述处理过程,直至计算误差小于设定的误差阈值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述计算误差,重新计算所述拍摄对象的三维形状参数,包括:

基于所述计算误差,以及已经计算得到的三维形状参数,迭代计算新的三维形状参数。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述初始三维几何模型以及所述纹理贴图模型进行二维参数化处理,得到二维参数表示的几何模型和纹理贴图模型,包括:

基于所述初始三维几何模型以及所述纹理贴图模型,建立三维直角坐标系;

采用柱面投影方法,获取三维直角坐标系中的初始三维几何模型以及纹理贴图模型上的坐标点对应的圆柱投影坐标;

将初始三维几何模型以及纹理贴图模型上的坐标点对应的圆柱投影坐标转换为平面坐标,得到二维参数表示的几何模型和纹理贴图模型。

6.一种三维建模细节增强装置,其特征在于,包括:

数据获取单元,用于获取拍摄对象的初始三维几何模型,以及与该初始三维几何模型对应的纹理贴图模型;其中,所述初始三维几何模型包含拍摄对象的深度信息;

参数处理单元,用于对所述初始三维几何模型以及所述纹理贴图模型进行二维参数化处理,得到二维参数表示的几何模型和纹理贴图模型;

计算处理单元,用于基于二维参数的纹理贴图模型,以及二维参数的几何模型,计算得到所述拍摄对象的包含细节的三维形状参数。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述计算处理单元基于二维参数的纹理贴图模型,以及二维参数的几何模型,计算得到所述拍摄对象的包含细节的三维形状参数,具体包括:

基于二维参数的纹理贴图模型,计算得到所述拍摄对象的三维形状参数;

基于二维参数的几何模型,对计算得到的三维形状参数进行校正。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,计算得到的三维形状参数中,至少包括拍摄对象表面亮度参数、拍摄对象深度参数,其中,所述拍摄对象表面亮度,通过拍摄对象表面反射率和光照方向而确定;

所述计算处理单元基于二维参数的几何模型,对计算得到的三维形状参数进行校正,具体包括:

通过将计算得到的三维形状参数,与二维参数的几何模型进行对比,确定计算误差;其中,所述计算误差用于表示计算得到的三维形状参数与拍摄对象的真实参数的误差;

基于所述计算误差,重新计算所述拍摄对象的三维形状参数;

重复上述处理过程,直至计算误差小于设定的误差阈值。

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