[发明专利]确定DCI长度的方法、装置、网络设备以及存储介质在审
申请号: | 202110714185.2 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN113541866A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 黄晓光 | 申请(专利权)人: | 广州慧睿思通科技股份有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H04L5/00 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 赵伟杰 |
地址: | 511442 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 dci 长度 方法 装置 网络设备 以及 存储 介质 | ||
1.一种确定DCI长度的方法,所述方法包括:
获取极化Polar码数据;
获取预设的DCI长度集合;
根据所述DCI长度集合中的最大的DCI长度值,对所述Polar码数据进行Polar译码,得到译码后序列;
依次选取所述DCI长度集合中的DCI长度值,根据选取的所述DCI长度值从所述译码后序列中获取DCI比特,并对所述DCI比特进行CRC校验;
在CRC校验通过的情况下,将当前选取的DCI长度值确定为目标DCI长度值。
2.根据权利要求1所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,
所述根据选取的所述DCI长度值从所述译码后序列中获取DCI比特,并对所述DCI比特进行CRC校验的步骤,包括:
根据选取的所述DCI长度值从所述译码后序列中计算得到DCI比特位置参数;
根据所述DCI比特位置参数获得DCI比特,并对所述DCI比特进行CRC校验。
3.根据权利要求2所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,
所述Polar码数据是第一类Polar码数据,所述第一类Polar码数据是未经交织处理的Polar码数据。
4.根据权利要求1所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,所述Polar码数据是第二类Polar码数据,所述第二类Polar码数据包括基于所述DCI比特进行交织处理所得到的信息比特;
所述根据选取的所述DCI长度值从所述译码后序列中获取DCI比特,并对所述DCI比特进行CRC校验的步骤的步骤,包括:
根据选取的所述DCI长度值计算得到信息比特位置参数并获得已交织的信息比特;
根据选取的所述DCI长度值对应的交织参数对所述已交织的信息比特进行解交织处理,获得解交织后的信息比特;
根据选取的所述DCI长度值计算得到DCI比特位置参数,并根据所述DCI比特位置参数获得DCI比特,并对所述DCI比特进行CRC校验。
5.根据权利要求1所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,所述依次选取所述DCI长度集合中的DCI长度值,包括:
对所述DCI长度集合中的DCI长度值进行排序,得到排序结果;
根据所述排序结果对所述DCI长度值进行依次选取。
6.根据权利要求5所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,所述对所述DCI长度集合中的DCI长度值进行排序,包括:
对所述DCI长度集合中的DCI长度值进行升序排序;
或者,对所述DCI长度集合中的DCI长度值进行降序排序。
7.根据权利要求1-6任一所述的确定DCI长度的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在逐一利用所述DCI长度集合中的所有DCI长度值对所述译码后序列中的DCI比特进行CRC校验均不通过的情况下,停止对所述DCI比特进行CRC校验处理,获取新的Polar码数据,对新的Polar码数据的DCI长度值进行计算。
8.一种DCI长度计算装置,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的确定DCI长度的方法。
9.一种网络设备,其特征在于,包括权利要求8所述的DCI长度计算装置。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至7中任意一项所述的确定DCI长度的方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州慧睿思通科技股份有限公司,未经广州慧睿思通科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110714185.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种链式PECVD镀膜工艺稳定性的检测方法
- 下一篇:一种弯头快插组件