[发明专利]一种配置参数校准方法及装置有效
申请号: | 202110717859.4 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113452562B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 万玉子;刘爱辉;李淑凤;郑明潇;李雨芯;沈奕 | 申请(专利权)人: | 中国建设银行股份有限公司 |
主分类号: | H04L41/14 | 分类号: | H04L41/14;H04L41/147;H04L41/0813 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王娇娇 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 配置 参数 校准 方法 装置 | ||
1.一种配置参数校准方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待处理设备的特征数据,所述特征数据是所述待处理设备处于目标环境中时影响所述待处理设备的配置参数的取值的数值;
根据所述待处理设备的特征数据和预设构建的配置基线模型,确定所述待处理设备处于所述目标环境中时的待校准配置参数;
向所述待处理设备发送校准指令,所述校准指令用于指示所述待处理设备对所述待校准配置参数进行校准;
其中,所述预设构建的配置基线模型包括一阶配置基线模型和二阶配置基线模型,所述一阶配置基线模型用于指示所述配置参数与系统特征的可量化关系,所述二阶配置基线模型用于指示有关联关系的配置参数之间的可量化关系,在确定所述待校准配置参数时利用所述一阶配置基线模型和/或二阶配置基线模型;
所述配置基线模型的构建过程包括:
获取第一系统环境的配置参数集合及所述第一系统环境的第一系统特征集合,所述第一系统环境为生产环境,所述配置参数集合包括配置参数的历史取值,所述第一系统特征集合包括所述系统特征的历史取值;
对所述配置参数集合中的配置参数进行标准化和消除多重共线性处理,得到所述第一系统环境的一阶配置参数集合和所述第一系统环境的二阶配置参数集合;
利用所述一阶配置参数集合中配置参数的历史取值和所述第一系统特征集合中系统特征的历史取值,得到所述一阶配置基线模型;
利用所述一阶配置基线模型中各配置参数的历史取值和所述二阶配置参数集合中各配置参数的历史取值,得到所述二阶配置基线模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
利用所述一阶配置基线模型和所述二阶配置基线模型,对所述第一系统环境的配置参数集合进行调整,得到所述第一系统环境的配置基线,所述第一系统环境的配置基线中存储有第一配置项和所述第一配置项的基线值,所述第一配置项为对第一系统环境进行校准时参照的配置参数;
获取第二系统环境的第二系统特征集合,所述第二系统环境为测试环境,所述第二系统特征集合包括系统特征的历史取值;
利用所述第二系统特征集合中系统特征的历史取值、所述一阶配置基线模型和所述二阶配置基线模型,得到所述第二系统环境的配置基线,所述第二系统环境的配置基线中存储有第二配置项和所述第二配置项的基线值,所述第二配置项为对第二系统环境进行校准时参照的配置参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述配置参数集合中的配置参数进行标准化和消除多重共线性处理,得到所述第一系统环境的一阶配置参数集合和所述第一系统环境的二阶配置参数集合包括:
将所述配置参数集合中类型为字符型的配置参数的字符值转换为数值;
获得所述配置参数集合中每个配置参数与所述配置参数集合中其他配置参数的线性回归模型;
根据所述每个配置参数的线性回归模型,得到所述每个配置参数的判决系数;
根据所述每个配置参数的判决系数,得到每个配置参数的方差膨胀因子;
根据所述每个配置参数的方差膨胀因子和预设阈值,确定所述配置参数所属集合,所述配置参数所属集合为所述第一系统环境的一阶配置参数集合或所述第一系统环境的二阶配置参数集合。
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