[发明专利]表面缺陷检测方法和相关产品

说明书

本申请实施例公开了一种表面缺陷检测方法和相关产品，该方法包括：通过缺陷检测器对目标图像中的目标对象进行表面缺陷检测，得到表面缺陷检测结果；所述缺陷检测器由包括第一样本的多个训练样本训练得到，所述第一样本由对第二样本中的缺陷标注框中的非缺陷区域做隐藏处理得到；输出所述表面缺陷检测结果。本申请实施例中，通过降低无关信息对缺陷检测器学习缺陷特征的干扰，利用缺陷检测器检测物体表面缺陷的精度较高。

技术领域

本申请涉及计算机视觉领域，尤其涉及一种表面缺陷检测方法和相关产品。

背景技术

物体表面缺陷检测技术在工业生产中的很多领域都有重要应用。常见于生产流水线上各种物品(例如金属、瓷器、布匹、冲压件等)的表面缺陷定位。例如，检测带钢端面上的边损、边裂、折叠、毛刺等缺陷，即定位带钢端面上的边损、边裂、折叠、毛刺等缺陷区域。精准的缺陷定位是后续针对不同的缺陷采取不同后处理的重要依据。目前，基于机器视觉的缺陷检测技术的检测精度较低。因此需要研究检测精度更高的表面缺陷检测方法。

发明内容

本申请实施例公开了一种表面缺陷检测方法和相关产品，检测物体表面缺陷的精度高。

第一方面，本申请实施例提供了一种表面缺陷检测方法，该方法包括：通过缺陷检测器对目标图像中的目标对象进行表面缺陷检测，得到表面缺陷检测结果；所述缺陷检测器由包括第一样本的多个训练样本训练得到，所述第一样本由对第二样本中的缺陷标注框中的非缺陷区域做隐藏处理得到；输出所述表面缺陷检测结果。

本申请实施例中，由于第一样本中的标注框能够隐藏缺陷区域周边的非缺陷区域，降低无关信息对缺陷检测器学习缺陷特征的干扰，因此由包括第一样本的多个训练样本训练得到的缺陷检测器检测物体表面缺陷的精度较高。

在一种可能的实现方式中，所述缺陷标注框中的缺陷区域位于所述缺陷标注框的对角线区域，所述非缺陷区域为所述缺陷标注框中除缺陷区域之外的区域。所述对角线区域可以为所述缺陷标注框中包含所述缺陷标注框的一条对角线的区域。

在该实现方式中，对缺陷标注框中的非缺陷区域做隐藏处理能够较准确地隐藏标注框中缺陷区域周边的非缺陷区域，降低无关信息对缺陷检测器学习缺陷特征的干扰。

在一种可能的实现方式中，所述缺陷区域为所述缺陷标注框中的第一连接线和第二连接线之间的区域，所述第一连接线为所述缺陷标注框的第一边界线上的第一点和所述缺陷标注框的第二边界线上的第二点之间的连线，所述第二连接线为所述缺陷标注框的第三边界线上的第三点和所述缺陷标注框的第四边界线上的第四点之间的连线，所述第一边界线和所述第二边界线相互垂直，所述第三边界线和所述第四边界线相互垂直。

在该实现方式中，缺陷区域能够较好地覆盖缺陷标注框中的缺陷，因此能够避免该缺陷标注框中的缺陷被隐藏处理。

在一种可能的实现方式中，所述第一点至所述缺陷标注框的右上顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第一比值等于所述第二点至所述缺陷标注框的左下顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第二比值，所述第三点至所述缺陷标注框的右上顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第三比值等于所述第四点至所述缺陷标注框的左下顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第四比值；或者，所述第一点至所述缺陷标注框的左上顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第一比值等于所述第二点至所述缺陷标注框的右下顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第二比值，所述第三点至所述缺陷标注框的左上顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第三比值等于所述第四点至所述缺陷标注框的右下顶点的距离与所述缺陷标注框的宽度的第四比值。

在该实现方式中，缺陷区域能够较好地覆盖缺陷标注框中的缺陷，因此能够避免该缺陷标注框中的缺陷被隐藏处理。

在一种可能的实现方式中，所述第一比值大于0.25小于0.5，所述第三比值大于0.25小于0.5。