[发明专利]基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法及系统有效
申请号: | 202110722987.8 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113418966B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 邱黎明;宋大钊;何学秋;王公达;刘强 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01N27/20;G01V3/22 |
代理公司: | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人: | 冯静 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 直流电 探测 巷道 松动 范围 无损 测试 方法 系统 | ||
1.一种基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法,其特征在于,所述基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法包括:
获取测试电极采集到的视电阻率;所述测试电极布置在设定测量区域,且所述测试电极在巷道长度方向上均匀布置;所述设定测量区域根据待测试区域确定;
计算相邻测试电极对应的视电阻率的梯度;具体包括:
将相邻两个测试电极中距离测试范围的中心远的测试电极对应的视电阻率减去距离测试范围的中心近的测试电极对应的视电阻率,得到视电阻率梯度值;
将递减趋势梯度中梯度值位于设定范围的梯度确定为目标梯度,所述递减趋势梯度包括从测试范围的中心到两端梯度值呈降低趋势的梯度;所述设定范围为-0.2~-0.3;
根据所述目标梯度对应的巷道位置确定巷道的松动圈边界。
2.根据权利要求1所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法,其特征在于,在所述获取测试电极采集到的视电阻率之前,还包括:
在所述巷道长度方向上,将所述待测试区域向两端各延伸设定长度后得到区域确定为所述设定测量区域。
3.根据权利要求1所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法,其特征在于,在巷道长度方向上,所述测试电极在巷道顶板上、底板上、左帮上以及右帮上分别沿直线均匀布置。
4.根据权利要求1所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法,其特征在于,所述根据所述目标梯度对应的巷道位置确定巷道的松动圈边界,具体包括:
根据所述目标梯度对应的相邻测试电极中距离所述待测试区域中心近的测试电极所对应的位置确定巷道的松动圈边界。
5.根据权利要求2所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试方法,其特征在于,所述设定长度为待测试区域沿巷道走向长度的1.5倍。
6.一种基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统,其特征在于,所述基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统包括:
视电阻率获取模块,用于获取测试电极采集到的视电阻率;所述测试电极布置在设定测量区域,且所述测试电极在巷道长度方向上均匀布置;所述设定测量区域根据待测试区域确定;
梯度计算模块,用于计算相邻测试电极对应的视电阻率的梯度;具体包括:
将相邻两个测试电极中距离测试范围的中心远的测试电极对应的视电阻率减去距离测试范围的中心近的测试电极对应的视电阻率,得到视电阻率梯度值;
目标梯度确定模块,用于将递减趋势梯度中梯度值位于设定范围的梯度确定为目标梯度,所述递减趋势梯度包括从测试范围的中心到两端梯度值呈降低趋势的梯度;所述设定范围为-0.2~-0.3;
巷道松动圈确定模块,用于根据所述目标梯度对应的巷道位置确定巷道的松动圈边界。
7.根据权利要求6所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统,其特征在于,所述基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统还包括:
测量区域确定模块,用于在所述巷道长度方向上,将所述待测试区域向两端各延伸设定长度后得到区域确定为所述设定测量区域。
8.根据权利要求6所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统,其特征在于,在巷道长度方向上,所述测试电极在巷道顶板上、底板上、左帮上以及右帮上分别沿直线均匀布置。
9.根据权利要求6所述的基于直流电法探测的巷道松动圈范围无损测试系统,其特征在于,所述巷道松动圈确定模块,具体包括:
巷道松动圈确定子模块,用于根据所述目标梯度对应的相邻测试电极中距离所述待测试区域中心近的测试电极所对应的位置确定巷道的松动圈边界。
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