[发明专利]一种基于自主建图的路线修正方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种基于自主建图的路线修正方法，其特征在于，包括：

获取跳变轨迹点，以及获取所述跳变轨迹点的得分，其中，所述跳变轨迹点的得分表示所述跳变轨迹点的曲率相对于与跳变轨迹点相邻的第一轨迹点的曲率、第二轨迹点的曲率的变化情况；

获取所述跳变轨迹点周围的目标修正点，其中，所述目标修正点的得分最小，其中，所述目标修正点的得分最小表示所述目标修正点的曲率相对于所述第一轨迹点的曲率、第二轨迹点的曲率的变化最小；

用所述目标修正点替换所述跳变轨迹点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述跳变轨迹点周围的目标修正点的步骤，进一步包括：

获取距离所述跳变轨迹点预设步长的多个修正点，分别计算所述多个修正点的得分；

判断所述多个修正点的得分是否均不小于所述跳变轨迹点的得分；

若否，则获取所述多个修正点中得分最小的选定修正点；

用所述选定修正点替换所述跳变轨迹点，以及返回所述获取距离所述跳变轨迹点预设步长的多个修正点，分别计算所述多个修正点的得分的步骤，直到所述多个修正点的得分均不小于所述跳变轨迹点的得分，将最终获得的所述选定修正点作为所述目标修正点。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述跳变轨迹点的坐标为(x，y)，所述距离所述跳变轨迹点预设步长的多个修正点的坐标分别为(x+step，y)、(x-step，y)、(x，y+step)和(x，y-step)，其中，所述step为所述预设步长。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，所述获取跳变轨迹点，以及获取所述跳变轨迹点的得分的步骤之前，所述方法还包括：

判断所述跳变轨迹点的初始得分是否大于预设阈值；

若是，则获取所述跳变轨迹点的初始横纵坐标；

根据所述初始横纵坐标，将所述跳变轨迹点调整至所述第一轨迹点和第二轨迹点所在的曲线，所述获取跳变轨迹点为获取调整后的跳变轨迹点，所述获取所述跳变轨迹点的得分为获取调整后的跳变轨迹点的得分；

若否，则直接执行所述获取跳变轨迹点，以及获取所述跳变轨迹点的得分的步骤。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，所述获取跳变轨迹点的步骤，进一步包括：

获取待测轨迹点的曲率；

获取与所述待测轨迹点相邻的第一轨迹点的曲率；

获取与所述待测轨迹点相邻的第二轨迹点的曲率；

根据所述待测轨迹点的曲率，所述第一轨迹点的曲率，以及所述第二轨迹点的曲率，计算所述待测轨迹点的得分；

判断所述待测轨迹点的得分是否大于预设值；

若是，则确定所述待测轨迹点是跳变轨迹点；

否则，确定所述待测轨迹点不是跳变轨迹点。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取待测轨迹点的曲率的步骤，进一步包括：

拟合所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线的轨迹方程；

根据所述轨迹方程，获取所述待测轨迹点的曲率。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测轨迹点的曲率，所述第一轨迹点的曲率，以及所述第二轨迹点的曲率，计算所述待测轨迹点的得分的公式为：

score_i＝|K_i-K_i-1|+|K_i+1-K_i|；

其中，所述score_i为所述待测轨迹点的得分，所述K_i为所述待测轨迹点的曲率，所述K_i-1为所述第一轨迹点的曲率，所述K_i-1为所述第一轨迹点相对于所述待测轨迹点的曲率，所述K_i+1为所述第二轨迹点的曲率，所述K_i+1为所述第二轨迹点相对于所述待测轨迹点的曲率。