[发明专利]一种圆光栅电子同轴调试方法有效
申请号: | 202110727696.8 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN113280762B | 公开(公告)日: | 2022-10-11 |
发明(设计)人: | 朱维斌 | 申请(专利权)人: | 杭州精稳科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 | 代理人: | 王佳健 |
地址: | 310018 浙江省杭州市钱塘新区学*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 圆光 电子 同轴 调试 方法 | ||
1.一种圆光栅电子同轴调试方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
a.将两个光栅读数头对径安装到光栅测角系统的圆光栅中,以对径光栅读数头方向为x轴建立坐标系,R为光栅测角系统的回转中心,O为圆光栅中心,矢量对应圆光栅偏心;
b.旋转圆光栅并采集两个对径光栅读数头输出的莫尔信号A1sin(2πN1+θ1)、A1cos(2πN1+θ1)、A2sin(2πN2+θ2)、A2cos(2πN2+θ2),其中A1,A2为莫尔信号幅值;θ1,θ2是莫尔信号单周期内相位;N1,N2是莫尔信号整周期数;
c.解算莫尔信号单周期内相位θ1,θ2,同时计数莫尔信号整周期数N1,N2;
d.将两个对径光栅读数头输出的莫尔信号相位做差,得到实时相位差
e.将光栅测角系统的转台旋转一周,记录转台旋转一周过程中相位差最大值和最小值
f.判断和是否满足电子同轴判断条件若满足判断条件即完成电子同轴调试;若不满足则进行步骤g;
g.继续旋转转台,当或时停止转台转动,并沿矢量向减小偏心距的方向进行同轴调整;
h.重复步骤b~g,直至经过n次同轴调整后,第n次求取的转台旋转一周相位差最大值和最小值满足电子同轴判断条件完成圆光栅电子同轴调试。
2.根据权利要求1所述的一种圆光栅电子同轴调试方法,其特征在于:
步骤c中将采集到的莫尔信号进行相位解算,构造的正切函数为:
其中,是莫尔信号的实时相位值;
将单个光栅周期内莫尔信号平均划分成8个区间,将0-π/4范围内相位的解算结果映射到0-2π整周期范围内,映射结果为:
其中,state为划分区间标号,按照以上相位解算方法进行相位解算得到莫尔信号单周期内相位θ1和θ2。
3.根据权利要求1所述的一种圆光栅电子同轴调试方法,其特征在于:
步骤c中对采集到的莫尔信号进行过零比较,当莫尔信号上两个连续的采样点y(i)与y(i+1)极性相反时,输出一个过零脉冲,对过零脉冲进行计数,莫尔信号整周期数N与过零脉冲计数值M之间的关系为:
分别对两个对径光栅读数头输出的莫尔信号进行整周期计数得到整周期计数值N1和N2。
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