[发明专利]一种光学薄膜缺陷批量式检测设备

说明书

本发明的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备，包括检测仪，所述检测仪内设有检测区间，所述检测区间内设有收放机构，所述收放机构包括固定设置在所述检测区间一侧内壁的承重杆，所述承重杆上套有四个旋转台，每个所述旋转台上都放置有一卷光学薄膜,本发明可对光学薄膜进行缺陷检测并贴上标签，发明采用一卷卷的光学薄膜直接进行检测，并通过可拆卸的旋转台及卷绕台来对光学薄膜进行完整的收放，大大提高了检测效率，采用多组的旋转台与卷绕台，可有效提高工作效率，节约工作时间，发明内拥有两处贴签机构，既可标记光学薄膜上缺陷的大致范围，又可标记光学薄膜的大致品质，十分方便后续的处理，无需人为去分析数据，十分方便，降低处理难度。

技术领域

本发明涉及光学薄膜相关领域，具体为一种光学薄膜缺陷批量式检测设备。

背景技术

光学薄膜由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料，其按照功能不同分成反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片等种类，在光学薄膜出厂之前通常要进行缺陷检测以保证出厂质量，常见的缺陷问题有污点、杂质、蚊虫以及孔洞等等，现有的检测设备大多是对单卷薄膜进行检测，需要不停替换薄膜，检测效率较低，且检测后的结果通常要在电脑上去进行分析，定位缺陷的具体位置要花较长的时间，整体操作十分繁琐，后续处理过程有较高的难度。

发明内容

本发明的目的是提供一种光学薄膜缺陷批量式检测设备，解决上述问题。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种光学薄膜缺陷批量式检测设备，包括检测仪，所述检测仪内设有检测区间，所述检测区间内设有收放机构，所述收放机构包括固定设置在所述检测区间一侧内壁的承重杆，所述承重杆上套有四个旋转台，每个所述旋转台上都放置有一卷光学薄膜，每个所述旋转台都对应有一个卷绕台，所述卷绕台内设有两个夹紧块，两个夹紧块用于夹住所述光学薄膜的另一端，通过所述卷绕台的转动可将对应的所述光学薄膜从所述旋转台上卷绕至所述卷绕台上；

所述检测区间内设有检测机构，所述检测机构包括安装在所述检测区间顶部内壁的第一电动滑轨，所述第一电动滑轨配合有第一电动滑块，所述第一电动滑块底部固定设有支撑块，所述支撑块上固定设有相机，所述检测区间底部内壁安装有第二电动滑轨，所述第二电动滑轨配合有第二电动滑块，所述第二电动滑块上固定设有放置块，所述放置块顶部固定设有透射光源，所述透射光源与所述相机相匹配，所述透射光源与所述相机架设在被拉出的所述光学薄膜两侧，所述透射光源发射光线照射穿过所述光学薄膜后，数据由所述相机进行拍摄收集；

所述放置块上安装有贴签机构，所述贴签机构为检测后的所述光学薄膜贴签。

所述贴签机构包括固定设置在所述放置块上的第一电机，所述第一电机控制有转动杆，所述转动杆上固定设有连接杆与框体，所述连接杆一端固定设有压实辊，所述框体内设有工作槽，所述工作槽两侧内壁间固定设有三角引导块，所述工作槽两侧内壁间转动设有第一收纳轮，所述工作槽一侧内壁固定设有第二电机，所述第二电机自带的电机轴上固定设有第二转轮。