[发明专利]用于分析被测设备的测试和测量系统

说明书

用于分析被测设备的测试和测量系统。一种用于分析被测设备的测试和测量系统，包括：数据库，其被配置成存储与用一个或多个先前被测设备执行的测试相关的测试结果；接收器，用于接收关于新的被测设备的新的测试结果；数据分析仪，其被配置成基于存储的测试结果来分析新的测试结果；以及健康分数生成器，其被配置成基于来自数据分析仪的分析针对新的被测设备生成健康分数。

优先权

本公开要求于2020年6月30日提交的题为“BIG SILICON DATA ANDCOORDINATION”的美国临时申请第63/046,595号的权益，该美国临时申请通过引用被整体地并入本文中。

技术领域

本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及可以基于与由测试和测量系统执行的其他测试相关的数据来分析被测设备（DUT）的测试和测量系统。

背景技术

电气设备的设计者和制造商需要测试和测量仪器以及适当的测试程序来确保电气设备正常运转。这样的测试可以在设计新设备的工程表征阶段进行，以例如将设备的实际电气性能与模拟性能进行比较，以确保设备按设计运行（perform）。

通常，为了测试符合性（compliance），用户将把设备连接到比特误码率测试仪（BERT）和/或矢量网络分析仪（VNA）以测试设备的实际电气性能。然而，这样的测试设置不仅可能是非常昂贵的，而且还可能花费大量的人工劳动（manual labor）。如果新设备最终未通过测试，则必须重新设计设备并重复测试。有时，即使模拟性能通过了测试，设备也可能未通过测试，并且用户必须花时间调试他们的新设计的设备，以确定实际设备测试为什么与模拟不同。

本公开的示例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

根据参考附图的示例的以下描述，本公开的示例的方面、特征和优点将变得显而易见，在附图中：

图1是根据本公开的一些示例的裕度测试仪（margin tester）的框图。

图2是根据本公开的一些示例的测试和测量系统的框图。

图3是根据本公开的一些示例的用于分析被测设备的流程图。

描述

裕度测试仪或系统是测试和测量仪器，其可以对DUT执行高速电气裕度测试。裕度测试仪可以建立DUT的单通道或多通道高速输入/输出链路，以评估单通道或多通道高速输入/输出链路的每个通道在发射方向或接收方向中的任何一个或两者上的电气裕度。

各自2020年1月31日提交的美国专利申请第16/778,249号和美国专利申请第16/778,262号公开了用于对DUT执行高速电气裕度测试的系统和方法，所述美国专利申请中的每个都通过引用被整体地并入。这样的裕度测试仪对于测试采用多通道通信协议（诸如例如外围组件互连（PCI）快速）的DUT可能是特别有用的。

图1是图示根据本公开的示例的具有多个接口102的裕度测试仪100的框图，该接口102被配置成例如经由一根或多根线缆被连接到至少一个测试固定装置，以评估DUT的多通道高速I/O链路在发射和接收方向中的任何一个或两个方向上的电气裕度。

裕度测试仪100包括控制器104和相关联的存储器106，存储器106可以存储控制器104可以读取、使用和/或执行以执行本文中描述的功能的指令和其他数据。裕度测试仪100可以包括一些数量的通道，所述通道可以经由接口102被连接（例如，线缆连接）到标准测试固定装置、线缆或适配器，以在控制器104的控制下执行裕度测试。裕度测试仪100包括连接到接口102的发射器和/或接收器（未示出）。