[发明专利]擦写干扰测试系统、方法以及执行装置

权利要求书

1.一种擦写干扰测试系统，其特征在于，包括：主控模块、与所述主控模块连接的FPGA模块、与所述FPGA模块连接的待测芯片；

所述主控模块用于发送操作指令以及接受所述FPGA模块发送的电平信号；

所述FPGA模块接收所述主控模块发出的操作指令并转发给所述待测芯片，使所述待测芯片执行擦除操作或执行编程或执行读取操作，所述FPGA模块对读取操作的结果进行对比并生成电平信号传输至所述主控模块，所述主控模块根据所述电平信号判断是否有擦写干扰。

2.根据权利要求1所述的一种擦写干扰测试系统，其特征在于，所述FPGA模块至少包括CTRL单元以及SLOT单元；

所述CTRL单元将所述操作指令解析后传输至所述SLOT单元；

所述SLOT单元接收来自所述CTRL单元解析后的指令并将对应操作的指令发送给所述待测芯片，使所述待测芯片执行擦除操作或执行编程或执行读取操作，所述SLOT单元接收和寄存所述待测芯片执行读取操作的结果信息。

3.根据权利要求1所述的一种擦写干扰测试系统，其特征在于，还包括数字电位器模块，所述数字电位器模块接收所述主控模块发出的操作指令，并根据所述操作指令给所述FPGA模块以及所述待测芯片供电。

4.根据权利要求3所述的一种擦写干扰测试系统，其特征在于，还包括模数转换模块，所述模数转换模块采集所述FPGA模块以及所述待测芯片的电压信息，并将所述电压信息通过所述FPGA模块传输至所述主控模块，所述主控模块根据所述电压信息控制所述数字电位器模块对电压进行调整。

5.一种擦写干扰测试方法，用于FPGA模块进行擦写干扰测试，所述FPGA模块一端连接有主控模块，另一端连接有待测芯片，其特征在于，包括：

获取主控模块对待测芯片的操作指令；

对所述操作指令进行解析并把解析后的指令发送给所述待测芯片，使所述待测芯片执行擦除操作或执行编程操作或执行读取操作；

对所述读取操作的结果进行对比生成电平信号。

6.根据权利要求5所述的一种擦写干扰测试方法，其特征在于，还包括：

获取所述待测芯片上的电压信息；

将所述电压信息发送给所述主控模块，使所述主控模块对电压进行调整。

7.一种擦写干扰测试方法，用于主控模块进行擦写干扰测试，所述主控模块通过FPGA模块与待测芯片连接，其特征在于，包括：

发送对所述待测芯片的操作指令至所述FPGA模块，使所述FPGA模块将经过解析后的操作指令发送给所述待测芯片，进而让所述待测芯片执行擦除操作或执行编程操作或执行读取操作；

获取所述FPGA模块在所述待测芯片执行读取操作后对读取操作的结果进行对比生成的电平信号；

根据所述电平信号判断是否有擦写干扰。

8.根据权利要求7所述的一种擦写干扰测试方法，其特征在于，还包括：

获取所述FPGA模块以及所述待测芯片的电压信息；

根据所述电压信息对所述FPGA模块以及所述待测芯片的供电进行调整。

9.一种执行装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取主控模块对待测芯片的操作指令；

第一处理模块，对所述操作指令进行解析并把解析后的指令发送给所述待测芯片，使所述待测芯片执行擦除操作或执行编程操作或执行读取操作；

第二处理模块，用于对所述读取操作的结果进行对比生成电平信号。

10.一种执行装置，其特征在于，包括：

第三处理模块，用于发送对待测芯片的操作指令至FPGA模块，使所述FPGA模块将操作的相关指令发送给所述待测芯片，进而让所述待测芯片执行擦除操作或执行编程操作或执行读取操作；

第二获取模块，用于获取所述FPGA模块在所述待测芯片执行读取操作后对读取操作的结果进行对比生成的电平信号；

第四处理模块，用于根据所述电平信号判断是否有擦写干扰。