[发明专利]一种测量谷物光滑度的方法及装置

说明书

本发明涉及一种测量谷物光滑度的方法和装置。在一个实施方式中，该装置包括供给谷物，特别是稻谷，的通道；设置在通道上的障碍物，以减慢落在障碍物上的谷物，这样谷物流在障碍物上形成了谷堆，该装置还包括面对障碍物放置的图像捕捉装置。图像捕捉装置设置为捕捉谷堆图像，在所捕捉谷堆图像曲线下方的面积表示了谷物光滑程度，或者所捕捉谷堆图像曲线的线程表示了谷物的光滑程度。

技术领域

本发明涉及一种测量谷物光滑度的装置以及确定谷物光滑度的方法。

背景技术

抛光谷物，如稻米，的光滑度在谷物研磨工业中是重要的质量参数。所获光滑表面是所获得研磨质量的显示。光滑度的评估通常基于触碰以及感觉而人工完成，因此是各个评估者的主观观察。

一般来说，难以评判种类繁多的谷物特别是稻谷的质量，如，评估为高级质量或者低级质量。质量的评估，即，稻谷光滑度，是基于个人判断确定的，这种个人判断至少需要两个样本进行比较。在缺乏得到科学角度支撑的任意方法的情况下，因此产生的稻谷通常会在质量上是不规则的，并且这常常是关注的对象。

因此本领域中需要一种方法来客观确定谷物特别是稻谷的光滑度的方法。

发明内容

根据本发明的一个方面包括了一种测量谷物光滑度的装置，包括供给谷物，特别是稻谷，的通道；设置在通道上的障碍物，以减慢落在障碍物上的谷物，这样谷物流在障碍物上形成了谷堆；面对障碍物的图像捕捉装置，其中图像捕捉装置设置为捕捉谷堆图像，且其中在所捕捉谷堆图像曲线下方的面积表示了谷物光滑程度或者其中所捕捉谷堆图像曲线的线程表示了谷物的光滑程度。

以下，装置和方法在某个程度上是针对稻谷进行说明的，但是这些装置和方法可以应用于谷物的广泛类型上。

设置在稻谷流中的障碍物产生了这样的效果，当稻谷落在障碍物上或者在障碍物上移动的时候保持其位于障碍物上。这导致了稻谷谷堆位于障碍物上。当这个谷堆超过了某个高度，稻谷开始让谷堆滑动并滑落。由这个过程导致的谷堆的形状和高度取决于，比如，稻谷的光滑度、尺寸和湿度。首先其取决于稻谷的光滑度。因此系统模型可以制造为包括了稻谷光滑度和障碍物上谷堆的形状之间的相依性。

图像捕捉装置在那个谷堆的不同时刻照一张或多张相片。相片比如从谷堆的侧部拍摄，这样所获取图像显示了谷堆的侧视图。谷堆上表面在侧视图上投射(project)为曲线。通过投影，谷堆的3D形状简化为2D视图，而2D视图包括了显示出谷堆上表面的曲线。曲线下方的面积表示谷物光滑程度。曲线形状也显示了光滑程度。如果曲线具有更为陡峭的部分，意味着谷物光滑度较低，如果曲线具有不那么陡峭的部分，这意味着谷物的更为光滑。这样光滑度可以通过评估曲线陡峭部分的程度的装置来确定。此外，曲线线程的平均陡峭程度得以确定，且可以从其上推倒出光滑度。曲线更陡峭的线程或者更陡峭部分意味着稻谷光滑度较低。

为了确定稻谷光滑度，该装置能够分析曲线。包括曲线和光滑度之间相依性的系统模型可以用于作此分析。比如，曲线下方的面积得以确定，并用于确定稻谷光滑程度。作为用于确定曲线下方面积的曲线起点和终点，可以使用相互之间具有最大的间隔的曲线侧边的点。为了确定这种点与点之间的线上方的面积，可以使用这些点之间的曲线。

为了那种目的，也可以使用曲线与障碍物的侧向接触点。曲线下方的面积继而可以确定为，这两点之间曲线以及这两点之间直线连接所确定的面积。

对于装置这些确定方法的任一种，系统模型可以用于根据曲线下方的面积确定光滑程度。为此目的，相关数据和限制都在这个系统模型中呈现。

根据一个实施方式，障碍物具有排放口，特别是孔，作为谷物的出口。这允许在障碍物上堆积的稻谷穿过排放口离开障碍物。籍此，谷堆可以稳固地恢复，不仅从上侧有稻谷落在它上，而且也从下侧。因此，如果谷物的光滑度改变，谷堆的形状快速适应改变后的光滑度。这允许对稻谷光滑度改变的快速适应。此外，光滑度测量的精确性得以提高，因为较少稻谷留在障碍物上。谷堆更新更快且更为完整。