[发明专利]一种全自动微米级透明薄膜流延卷绕端面平齐控制装置

说明书

本发明公开了一种全自动微米级透明薄膜流延卷绕端面平齐控制装置，包括薄膜检测装置、控制单元和卷膜执行机构，所述薄膜检测装置中并行设置有校正电容和检测电容，所述检测电容的任一极板上设置有检测基准线，校正电容的两极板之间设置有薄膜通道，所述薄膜检测装置通过所述校正电容和检测电容与所述控制单元电连接，所述控制单元与所述卷膜执行机构电连接，具有薄膜收卷平齐，可对不同厚度不同介质种类的薄膜可以连续生产的有益效果。

技术领域

本发明属于机电控制技术领域，具体涉及一种全自动微米级透明薄膜流延卷绕端面平齐控制装置。

背景技术

薄膜电容器是脉冲电源的核心器件，储能密度较低的薄膜电容器已成为制约我国脉冲电源小型化的最大短板，严重影响了电能武器的装备进程，成为我国电能武器发展的“卡脖子”因素。流延成膜工艺是薄膜电容器制造核心工艺之一，该制备工艺中一个重要指标是薄膜收卷无爆筋、端面平齐，端面卷绕不平齐度小于1毫米。

薄膜流延设备长达十几米，设备内部有数十个各类传输辊。由于设备的跨距较长、传输辊加工精度问题、安装调试误差问题、各类传输辊同步控制误差问题、以及薄膜在烤箱中受热出现应力分布不均问题，这些诸多问题都会使流延膜收卷过程中受到不可控制力的作用而不能沿基准线均匀传送，出现随机性扰动“跑偏”现象，薄膜绕卷端面平齐才能保证下道喷金工序中各层的电接触的可靠性，一旦薄膜“跑偏”，在卷绕中会出现端面不齐，绕卷产生皱褶，“跑偏”严重时，致使整个绕卷报废，无法进入到下段工序。

此外，在工作过程中，一旦薄膜的厚度或者薄膜的材质发生变化后，必须将薄膜延流设备进行停机重新设置新的控制参数，而在流延生成过程中，一旦停机，流延材料将滞留在烘箱中过度烘烤，又会产生新的应力聚集，再次干扰纠偏控制，不仅造成较多的材料损失，而且影响生产的连续性。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种全自动微米级透明薄膜延卷绕端面平齐控制装置

具体方案如下：

一种全自动微米级透明薄膜流延卷绕端面平齐控制装置，包括薄膜检测装置、控制单元和卷膜执行机构，其中，所述薄膜检测装置中并行设置有校正电容和检测电容，所述检测电容的任一极板上设置有检测基准线，校正电容的两极板之间设置有薄膜通道，所述薄膜检测装置通过所述校正电容和检测电容与所述控制单元电连接，所述控制单元与所述卷膜执行机构电连接。

所述平齐控制装置中还包括LC校正振荡电路和LC检测振荡电路，所述薄膜检测装置通过LC校正振荡电路和LC检测振荡电路与所述控制单元电连接。

所述检测装置中还包括检测支架，所述检测支架为C型支架或U型支架，所述校正电容固定在C型支架或U型支架的开口端处，所述检测电容固定在C型支架或U型支架的闭合端处。

所述检测支架包括立柱、第一支架臂和第二支架臂，所述立柱两端固定有第一支架臂和第二支架臂，所述检测支架为一体成型结构。

所述校正电容包括校正电容上极板和校正电容下极板，所述检测电容包括检测电容上极板和检测电容下极板，所述校正电容上极板和检测电容上极板均固定在所述第一支架臂上，所述校正电容下极板和检测电容下极板均固定在所述第二支架臂上。

所述第一支架臂和第二支架臂上均设置有安装凹槽，所述安装凹槽为两组，两组安装凹槽在第一支架臂和第二支架臂上一一对应，所述校正电容和检测电容均固定在所述安装凹槽内。

所述卷膜执行机构包括卷筒、动力装置和卷筒调整机构，其中，所述卷筒两端固定在卷筒调整机构上，所述卷筒调整机构与所述动力装置转动连接。

所述动力装置包括步进电机、编码器、减速箱和主动带轮，所述步进电机的输出轴上设置有编码器，所述步进电机的输出轴还通过减速箱与所述主动带轮转动连接，所述步进电机和编码器均与所述控制单元电连接。