[发明专利]一种物料粉碎粒度控制系统及其控制方法和应用

权利要求书

1.一种物料粉碎粒度控制系统，其特征在于，包括：

操作界面单元，用于输入关于粉碎物料粒度的设定参数，所述设定参数包括：粒度目标值、粒度允许误差、取样周期、粒度连续超标允许次数、粒度连续正常设定次数；所述取样周期分为正常取样周期与异常取样周期；

检测单元，用于进行周期取样，并获取粒度测量值以及记录粒度数据条数与取样次数的实际参数；

控制单元，与所述操作界面单元、检测单元均电连接，用于将所述实际参数与所述设定参数进行智能计算判断，并根据计算判断结果控制执行单元和检测单元工作；

执行单元，用于执行物料粉碎和粉碎过程中的粒度调节机制，包括研磨机、颗粒捕集器、引风机，所述研磨机的磨腔内设有用于粒度调节的分级轮、粉碎机，所述颗粒捕集器与所述磨腔的出料口相连接，所述引风机与颗粒捕集器的顶部相连接，所述执行单元的输入端与所述控制单元的输出端电连接；所述执行单元根据控制单元发出的指令，增大或减小引风机、分级轮和粉碎机的工作频率，从而调节所述物料粉碎粒度至粒度允许误差范围内；

所述物料粉碎粒度控制系统的粒度控制方法包括以下步骤：

步骤1：启动物料粉碎粒度控制系统；

步骤2：在粉碎后物料输出端按照正常取样周期的设定参数进行间隔取样；

步骤3：对步骤2中取样物料进行粒度检测，将粒度测量值与粒度目标值进行比对；若两者差值小于粒度允许误差，则判断为粒度正常；若两者差值大于粒度允许误差，则判断为粒度超标；

步骤4：判断为粒度正常时，返回步骤2；判断为粒度超标时，在“粒度连续超标次数”计数系统加1；

步骤5：将“粒度连续超标次数”的计数系统值与“粒度连续超标允许次数”的设定值进行比较；若“粒度连续超标次数”的计数系统值大于“粒度连续超标允许次数”的设定值，则进入步骤6；否则，则返回步骤2；

步骤6：启动物料粉碎粒度控制系统的粒度调节机制，而并按照异常取样周期进行间隔取样；

步骤7：对步骤6中取样物料进行粒度检测，将粒度测量值与粒度目标值进行比对；若两者差值小于粒度允许误差，则判断为粒度正常；若两者差值大于粒度允许误差，则判断为粒度超标；

步骤8：判断为粒度超标时，返回步骤6；判断为粒度正常时，在“粒度连续正常次数”计数系统加1；

步骤9：将“粒度连续正常次数”的计数系统值与“粒度连续正常设定次数”的设定值进行比较；若“粒度连续正常次数”的计数系统值大于“粒度连续正常设定次数”的设定值，则关闭物料粉碎粒度控制系统的粒度调节机制，而后返回步骤2；反之，则返回步骤6；

步骤10：物料粉碎工作完成后关闭物料粉碎粒度控制系统。

2.根据权利要求1所述的物料粉碎粒度控制系统，其特征在于，所述异常取样周期的间隔时间短于正常取样周期；所述异常取样周期为多档位，档位越低，取样周期的间隔时间越长；档位越高，取样周期的间隔时间越短。

3.根据权利要求1所述的物料粉碎粒度控制系统，其特征在于，所述检测单元为粒度仪，与所述颗粒捕集器的出料口相连的管道上设有取样口，所述粒度仪的位置与所述取样口相对应。

4.根据权利要求1所述的物料粉碎粒度控制系统，其特征在于：所述正常取样周期为静态值，所述异常取样周期为动态值；所述粒度测量值与粒度目标值之间差值的绝对值越大，所述异常取样周期的档位越高，取样周期的间隔时间越短。

5.根据权利要求1所述的物料粉碎粒度控制系统，其特征在于：所述粒度调节机制设有多级档位，每一级档位对应一级粉碎机、分级轮和引风机的工作频率。