[发明专利]测试信号的时间补偿方法及装置

说明书

本申请实施例提供的测试信号的时间补偿方法及装置，在信号源向测试平台上的测试单元发送测试信号时，能够由补偿装置确定测试信号因阻抗匹配给每个测试位置上侧测试单元所带来的时延，并根据时延对信号源向不同测试单元发送的时钟信号进行时间补偿，使得测试单元能够更加准确地接收到测试信号，进而提高了使用测试平台对器件进行测试的准确度。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试信号的时间补偿方法及装置。

背景技术

随着电子技术的不断发展，越来越多的电子元件、芯片、集成电路被广泛应用在各个领域，并用于实现越来越丰富的功能，而作为这些器件的生产商，也就需要在集成度越来越高的情况下，依然能够保证所生产的器件的性能，在出厂时需要对器件进行测试，例如通过向待测试器件输入测试信号，检测待测试器件根据测试信号的输出结果是否满足预设条件，来检查待测试器件的性能。

现有技术中，为了提高对相同器件的检测效率，一种常见的方式是在菊花链式(daisy chain)测试平台上同时设置多个器件，当信号源向测试平台输入测试信号后，测试平台上设置的多个器件都可以接收到相同的测试信号，并分别对测试信号进行处理，此时可以通过检测多个器件是否能够准确接收实现器件的批量检测。

采用现有技术，测试信号在从信号源到对应的器件之间的传输路径上，存在由传输线路、其他器件的阻抗匹配所带来的传输时延，导致影响器件无法准确接收到测试信号，进而影响对器件进行测试的准确度。

发明内容

本申请提供一种测试信号的时间补偿方法及装置，以克服测试信号从信号源到对应的器件之间的传输路径上传输线路、其他器件的阻抗匹配所带来的时延所导致的器件无法准确接收到测试信号的技术问题。

本申请第一方面提供一种测试信号的时间补偿方法，包括：信号源向测试平台上的多个测试位置的测试单元发送测试信号时，获取每个所述测试单元的时间参数；其中，所述信号源到每个所述测试位置之间的传输路径上存在的阻抗不同，所述时间参数用于指示传输路径上的阻抗是否影响所述测试单元接收所述测试信号；根据目标时间参数和每个所述测试单元的时间参数，确定所述多个测试单元所在的多个测试位置所对应的补偿参数；向所述信号源发送所述多个测试位置对应的多个补偿参数，以使所述信号源根据所述多个补偿参数，对向所述多个测试位置发送的时钟信号进行时间补偿。

在本申请第一方面一实施例中，所述目标时间参数用于指示：所述信号源到目标测试位置的传输路径上的阻抗是否影响所述目标测试位置上设置的目标测试单元接收所述测试信号；其中，所述目标测试位置是所述测试平台上与所述信号源距离最近的测试位置。

在本申请第一方面一实施例中，所述时间参数包括：多个频率的时钟信号、测试信号的多个建立时间以及标识信息的对应关系；其中，所述标识信息用于指示当所述测试单元分别以多个建立时间接收所述测试信号时，所述测试单元分别根据所述多个频率的时钟信号，是否能够准确接收到所述测试信号。

在本申请第一方面一实施例中，所述多个频率的时钟信号按照第一预设规律变化；所述多个建立时间按照第二预设规律变化。

在本申请第一方面一实施例中，所述标识信息包括：多个子信息，每个子信息用于指示所述测试单元以所述多个建立时间中的一个建立时间，接收所述多个频率中一个频率的时钟信号时，所述测试单元是否能够准确接收到所述测试信号；当所述子信息为第一状态时，指示所述测试单元以一个建立时间接收所述测试信号并根据一个频率的时钟信号，能够准确接收到测试信号；当所述子信息为第二状态时，指示所述测试单元以一个建立时间接收所述测试信号并根据一个频率的时钟信号，不能准确接收到测试信号。