[发明专利]一种堆叠芯片及制备方法在审
申请号: | 202110753141.0 | 申请日: | 2021-07-02 |
公开(公告)号: | CN113314510A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 韩彦武;郭立;薛小飞;龙晓东 | 申请(专利权)人: | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L21/98;H01L21/50 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 吴莹 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 堆叠 芯片 制备 方法 | ||
本申请公开一种堆叠芯片及制备方法,堆叠芯片包括:至少两个相互堆叠的芯片单元;相邻的两个所述芯片单元之间设置有第一支撑柱和第一导电柱;所述第一支撑柱用于对所述芯片单元产生支撑应力,所述第一导电柱用于导通相连接的两个所述芯片单元上的线路。能够改善现有芯片堆叠的方式,容易发生芯片开裂导致芯片功能失效的问题。
技术领域
本申请涉及半导体技术领域,尤其涉及一种堆叠芯片及制备方法。
背景技术
近年来,随着消费类产品的持续升级,芯片市场对于芯片元器件性能的需求越来越高,同时,对于芯片元器件的小尺寸化的需求也越来越多。目前,采用3D IC(threedimensional Integrated Circuit Chip,三维芯片)技术可以把功能不同的两张芯片面对面堆叠起来构成一个功能系统,能够减少芯片整体的面积,在兼顾了性能的同时,也满足了小尺寸化的需求。
然而,现有的芯片堆叠的方式,容易发生芯片的开裂导致芯片的功能失效。
发明内容
本申请实施例提供了一种堆叠芯片及制备方法,能够改善现有芯片堆叠的方式,容易发生芯片开裂导致芯片功能失效的问题。
本申请实施例的第一方面,提供一种堆叠芯片,包括:至少两个相互堆叠的芯片单元;
相邻的两个所述芯片单元之间设置有第一支撑柱和第一导电柱;
所述第一支撑柱用于对所述芯片单元产生支撑应力,所述第一导电柱用于导通相连接的两个所述芯片单元上的线路。
在一种可行的实施方式中,所述芯片单元的线路侧包括线路区和非线路区,所述线路区包括所述线路;
所述第一导电柱与所述芯片单元的接触区域位于所述线路区;
所述第一支撑柱与所述芯片单元的接触区域位于所述非线路区。
在一种可行的实施方式中,所述第一支撑柱设置于所述芯片单元的虚拟分割线上,其中,所述虚拟分割线通过对所述芯片单元进行等份分割得到,且所述虚拟分割线位于所述非线路区。
在一种可行的实施方式中,设置于所述虚拟分割线上的所述第一支撑柱等间距排列。
在一种可行的实施方式中,还包括第二导电柱;
所述第二导电柱设置于不相邻的两个所述芯片单元之间,所述第二导电柱用于导通相连接的两个所述芯片单元的所述线路,所述第二导电柱与所述芯片单元的接触区域位于所述线路区。
在一种可行的实施方式中,还包括第二支撑柱;
所述第二支撑柱设置于不相邻的两个所述芯片单元之间,所述第二支撑柱用于对所述芯片单元产生支撑应力,所述第二支撑柱与所述芯片单元的接触区域位于所述非线路区。
在一种可行的实施方式中,包括:依次堆叠的第N层芯片单元、第N+1层芯片单元和第N+2层芯片单元,其中,N为大于0的自然数,所述第N层芯片单元的所述线路侧与所述第N+1层芯片单元的所述线路侧相对设置,所述第N层芯片单元的所述线路侧与所述第N+2层芯片单元的所述线路侧相对设置;
所述第N层芯片单元与所述第N+1层芯片单元之间设置有所述第一支撑柱和所述第一导电柱;
所述第N+1层芯片单元与所述第N+2层芯片单元之间设置有所述第一支撑柱;
所述第N层芯片单元与所述第N+2层芯片单元之间设置有所述第二导电柱。
在一种可行的实施方式中,所述第N+1层芯片单元的所述非线路区设置有第一通孔;
所述第N层芯片单元与所述第N+2层芯片单元之间设置的所述第二导电柱穿设于所述第一通孔。
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