[发明专利]一种均光度校正方法及设备

说明书

本公开提供了一种均光度校正方法及设备，其中，均光度校正方法包括：获取待校正产品的目标图像；对目标图像进行矢量化处理，得到待校正产品对应的第一矢量图像；基于第一矢量图像印刷形成校正层；利用校正层校正待校正产品的均光度。本公开通过对目标图像进行矢量化处理以得到待校正产品对应的第一矢量图像，之后，基于第一矢量图像形成的校正层，并利用校正层校正待校正产品的均光度，可以有预见性的判断待校正产品的校正结果，不仅有效地提高了待校正产品的均光度，还节省了大量的研发时间和研发费用。

技术领域

本公开涉及校正技术领域，特别涉及一种均光度校正方法及设备。

背景技术

随着用户对电子产品的需求不断提升，越来越多的电子产品设置了发光显示功能，例如发光LOGO，液晶显示屏幕等。但，由于灯光控制和灯光设计复杂、灯光的相互影响、内部环境的反射、折射的影响等，模拟软件无法较为全面的模拟所有的上述变量，进而导致电子产品的均光度无法有效地得到保证，并且，为了提升电子产品的均光度研发成本较高。

现有技术中，校正电子产品的均光度的方法为：在使用仿真软件初步布置反光点之后，根据实际状况不断调整发光点，以完成模拟校正。但，反光点布局调整之后无法预测实际样品的均匀度，只能等样品完成之后才能核实设计的准确性，并且，利用该方法得到的电子产品的均光度仍较低。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例的目的在于提供一种均光度校正方法及设备，用于解决现有技术中电子产品的均光度较低的问题。

第一方面，本公开实施例提供了一种均光度校正方法，其中，包括：

获取待校正产品的目标图像；

对所述目标图像进行矢量化处理，得到所述待校正产品对应的第一矢量图像；

基于所述第一矢量图像印刷形成校正层；

利用所述校正层校正所述待校正产品的均光度。

在一种可能的实施方式中，所述获取待校正产品的目标图像，包括：

利用仿真软件模拟形成的仿真产品；

参照所述仿真产品生成所述待校正产品；

在所述待校正产品处于发光状态时，获取待校正产品的目标图像。

在一种可能的实施方式中，所述在所述待校正产品处于发光状态时，获取待校正产品的目标图像，包括：

在所述待校正产品处于发光状态时，利用工业相机拍摄所述待校正产品，得到所述目标图像。

在一种可能的实施方式中，所述对所述目标图像进行矢量化处理，得到所述待校正产品对应的第一矢量图像，包括：

针对所述目标图像的明暗区域进行矢量化处理，得到第二矢量图像；

将所述第二矢量图像中的明暗区域进行反向处理，得到所述第一矢量图像。

在一种可能的实施方式中，所述基于所述第一矢量图像印刷形成校正层，包括：

对所述第一矢量图像进行点阵化处理，得到点阵图像；

按照所述点阵图像上的点阵进行印刷以形成校正层。

在一种可能的实施方式中，所述按照所述点阵图像上的点阵进行印刷以形成校正层，包括：

按照所述点阵图像上的点阵，将遮光油墨印刷在透明层上，得到校正层。

在一种可能的实施方式中，所述利用所述校正层校正所述待校正产品的均光度，包括：

将所述校正层放置在所述待校正产品的导光板和均光板之间。