[发明专利]一种强流脉冲宽能谱中子剂量率监测装置

权利要求书

1.一种强流脉冲宽能谱中子剂量率监测装置，包括计数电子学系统、中子慢化体、多阳极光电倍增管和四个尺寸相等的塑料闪烁体探测器；

所述计数电子学系统通过接线与所述多阳极光电倍增管连接；

所述塑料闪烁体探测器呈长方体，其中一个表面与所述多阳极光电倍增管连接，每两个所述塑料闪烁体探测器的其余表面分别采用银薄膜和锡薄膜包裹；

采用环氧塑料将四个所述塑料闪烁体探测器固定在所述中子剂量率监测装置的中心位置；

所述环氧塑料的外部为所述中子慢化体，所述中子慢化体呈球型，由外至内依次包括外聚乙烯层、重金属散裂层、中子吸收层和内聚乙烯层。

2.根据权利要求1所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述中子吸收层的材质为含硼聚乙烯或镉。

3.根据权利要求1所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述塑料闪烁体探测器的尺寸为5～100mm×5～100mm×5～100mm；

所述银薄膜的厚度为0.25mm，所述锡薄膜的厚度为0.34mm。

4.根据权利要求1所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：每个所述塑料闪烁体探测器之间的环氧塑料层、所述塑料闪烁体探测器与所述内聚乙烯层之间的环氧塑料层的厚度均最低为2mm。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为铅，所述中子吸收层的材质为含硼聚乙烯，所述外聚乙烯层的厚度为6.4cm，所述重金属散裂层的厚度为0.7cm，所述中子吸收层的厚度为0.5cm，所述内聚乙烯层的半径为4.8cm。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为钨，所述中子吸收层的材质为含硼聚乙烯，所述外聚乙烯层的厚度为5.8cm，所述重金属散裂层的厚度为0.4cm，所述中子吸收层的厚度为0.4cm，所述内聚乙烯层的半径为4.8cm。

7.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为铜，所述中子吸收层的材质为含硼聚乙烯，所述外聚乙烯层的厚度为6.4cm，所述重金属散裂层的厚度为1.2cm，所述中子吸收层的厚度为0.2cm，所述内聚乙烯层的半径为4.6cm。

8.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为铅，所述中子吸收层的材质为镉，所述外聚乙烯层的厚度为6.4cm，所述重金属散裂层的厚度为1.1cm，所述中子吸收层的厚度为0.4cm，所述中子吸收层打孔半径为0.4cm，所述中子吸收层均匀打孔数为114个，所述内聚乙烯层的半径为4.8cm。

9.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为钨，所述中子吸收层的材质为镉，所述外聚乙烯层的厚度为6.0cm，所述重金属散裂层的厚度为0.3cm，所述中子吸收层的厚度为0.4cm，所述中子吸收层打孔半径为0.1cm，所述中子吸收层均匀打孔数为114个，所述内聚乙烯层的半径为4.7cm。

10.根据权利要求1-4中任一项所述的中子剂量率监测装置，其特征在于：所述重金属散裂层的材质为铜，所述中子吸收层的材质为镉，所述外聚乙烯层的厚度为6.4cm，所述重金属散裂层的厚度为1.1cm，所述中子吸收层的厚度为0.2cm，所述中子吸收层打孔半径为0.3cm，所述中子吸收层均匀打孔数为114个，所述内聚乙烯层的半径为4.5cm。