[发明专利]一种用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块及方法

权利要求书

1.一种用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，包括试块本体(2)，试块本体(2)的材质与表面波探头(1)曲面楔块的材质相同；试块本体(2)依次由第一曲面、第一平面、第二曲面和第二平面连续包围组成；第一曲面和第二曲面的曲率半径与受检管件的曲率半径相等，第二曲面的轴心位于第一曲面上，且第一曲面轴心与第二曲面轴心的距离与受检管件的曲率半径相等。

2.如权利要求1所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，第一平面与第二平面垂直，第一曲面的轴心和第二曲面的轴心所在的直线与第二平面平行。

3.如权利要求1所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，第一曲面的弧长为表面波探头(1)弧长的1～1.5倍。

4.如权利要求1所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，试块本体(2)的宽度为表面波探头(1)的1.5～2倍。

5.如权利要求1所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，第一曲面上设有第二曲面轴心的标识。

6.如权利要求1所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块，其特征在于，第二曲面的轴心位于第一曲面的中心处。

7.采用权利要求1～6任意一项所述的用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块进行入射点测定的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：在试块本体(2)的第一曲面上涂覆耦合剂，将表面波探头(1)紧贴第一曲面；

S2：在第一曲面上移动表面波探头(1)，当表面波探头(1)收到第二曲面的最大回波信号时，在第二曲面的轴心对应的表面波探头(1)外壳上进行标记，该标记点为表面波探头(1)的入射点。

8.如权利要求7所述的采用用于管件周向缺陷检测入射点测定的对比试块进行入射点测定的方法，其特征在于，步骤S1前，还包括试块本体(2)的表面清理工序。