[发明专利]一种对位匹配高差精确测量装置及其使用方法

权利要求书

1.一种对位匹配高差精确测量装置的使用方法，其特征在于，测量装置包括主刻度尺、副刻度尺和量角器，其中，主刻度尺一端滑动连接有副刻度尺，主刻度尺和副刻度尺的连接处设置有量角器；

主刻度尺上设置有凹槽，凹槽一端通过销轴滑动连接副刻度尺一端；

销轴外侧设置有凸起，凸起上悬挂设置有量角器；

上述对位匹配高差精确测量装置的使用方法，操作步骤如下:

(1)选定待测点A₂、B₂，然后架设并调平水准仪；

(2)将副刻度尺从主刻度尺凹槽内旋转取出，在销轴外侧的凸起上悬挂量角器，量角器在自身重力作用下实现水平；

(3)主刻度尺、副刻度尺底部分别放置于待测点A₂、B₂；

(4)通过水准仪读出主刻度尺、副刻度尺上同一水平高度的A₁、B₁点刻度值，即可得A₁A₂和B₁B₂的长度；

(5)通过量角器分别测出主刻度尺、副刻度尺中心线与量角器竖直线的夹角α、β；

(6)计算得出测点A₂、B₂的高差；

(7)在同一测区内多次取测点，重复步骤(1)-(6)，将测量的高差取平均值。

2.如权利要求1所述的对位匹配高差精确测量装置的使用方法，其特征在于，凹槽深度与副刻度尺厚度相同。

3.如权利要求1所述的对位匹配高差精确测量装置的使用方法，其特征在于，步骤(4)中水准基点A₁、B₁处于同一水平高度。

4.如权利要求1所述的对位匹配高差精确测量装置的使用方法，其特征在于，步骤(6)中测点A₂、B₂的高差计算方式如下：

a、以A₁A₂为直角三角形斜边构建直角三角形A₂A₁A₃，以B₁ B₂为直角三角形斜边构建直角三角形B₂B₁B₃；

b、B₁B₃和A₁A₃均竖直，与水平垂直，故∠A₂A₁A₃和∠B₂B₁B₃分别等于夹角α、β；

c、将A₁A₂和B₁B₂的长度代入下式：

A₁A₃＝A₁A₂cosα

B₁B₃＝B₁B₂cosβ

计算得出A₁A₃和B₁B₃的长度，则测点A₂、B₂的高差H＝A₁A₃-B₁B₃＝A₁A₂cosα-B₁B₂cosβ。