[发明专利]一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法及装置

说明书

本发明公开了一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法，涉及储层分类领域，具体操作步骤如下：将取样装置移动到指定的位置上，通过取样装置对各个深度段的储层类型进行取样；对样品进行分析，通过覆压孔渗仪和脉冲渗透率仪获得样品的实测孔隙值和渗透率值；观察储层的储集空间特征，利用荧光显微镜观察荧光铸体薄片。本发明能够对不同储层的样品进行收集，能够快速对不同深度段的储层进行分析，在收集过程中能够防止样品发生污染，同时本发明操作简单，伸缩气缸能够使下端的钻孔装置下降到更深的地方，通过控制面板上的显示屏能够显示深度传感器下降的深度，便于进行操作。

技术领域

本发明涉及储层分类领域，尤其是一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法及装置。

背景技术

储层是指具有连通孔隙、允许油气在其中储存和渗滤的岩层。世界上已发现的油气储量大多数来自沉积岩层，其中以砂岩和碳酸盐岩储集层最为重要，裂缝性泥岩和煤层也可作为储集层，火成岩和变质岩储集层中也有工业性油气发现，储层的储集能力是由储集层的岩石物理性质决定的，通常包括其孔隙性、渗透性；孔隙性决定了储层储存能力的大小，渗透性决定了储集物的渗流能力。

为了对储层进行评价需要使用科学的分类方法，现有的储层分类方法中使用的储层取样装置存在着较多的缺陷，在对不同深度储层进行分析的时候，不方便对深度进行观察，在进行储层样品取样的过程中，所取样品容易被不同地层中的储层污染，导致储层样品在测量的时候容易产生误差，为此我们提出一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法及装置。

发明内容

本发明旨在提供一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法及装置，能够解决上述背景技术中提出的现有的储层分类方法中使用的取样装置存在的取样不够快速，在不同储层进行取样时样品容易发生污染的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种致密储层微观孔隙结构的储层分类方法，具体操作步骤如下：

步骤1：将取样装置移动到指定的位置上，通过取样装置对各个深度段的储层类型进行取样；

步骤2：对样品进行分析，通过覆压孔渗仪和脉冲渗透率仪获得样品的实测孔隙值和渗透率值；

步骤3：观察储层的储集空间特征，利用荧光显微镜观察荧光铸体薄片，和利用场发射扫描电子显微镜观察新鲜断面样品和氩离子抛光样品，分析不同尺度的孔隙类型和大小和连通状况，统计不同类型孔隙的面孔率；

步骤4：通过压汞法获得样品的样品的孔隙结构参数，其中包括不同大小孔径的分布；

步骤5：分析储层物性控制因素，分析上述步骤确定的不同尺度的孔隙类型、大小及连通状况、储层的孔径分布等参数中的一种或几种的组合与上述步骤确定的储层孔隙度和渗透率的关系，选出影响储层物性较大的储集空间特征和孔隙结构参数；

步骤6：储层分类，对测定样品的孔隙值、渗透率值和其他的样品孔隙结构参数进行综合评价，最后对储层进行分类。

进一步的，步骤1中取样装置能够有效防止储层样品在不同储层中发生污染。

进一步的，开展沉积相、砂体展布等特征或参数的研究，从而实现储层宏观评价；加大对孔隙结构、孔隙类型等的定量分析，进行储层微观方面的评价；通过对储层宏观与微观特征深度结合进行分析，以达到综合评价的目的；加大储层定量评价，优选储层分类的主控因子参数，对储层进行评价。

进一步的，步骤4中采用高压压汞法测量岩石样品的孔喉参数，确定储层的孔径分布，实现储层孔隙结构参数的测量。

进一步的，步骤6中储层物性的参数进行分类，并确定不同类型储层对应的储层孔隙值、渗透率值和其他的样品孔隙结构参数中的一种或几种的组合。

进一步的，步骤4中高压压汞法测量岩石样品的孔喉参数具体包括：