[发明专利]一种多普勒干涉仪校准调试系统、校准方法及调试方法

权利要求书

1.一种多普勒干涉仪校准调试系统，其特征在于，包括：多普勒干涉仪(1)、支架(2)、校准组件(3)和调试组件(4)；所述校准组件(3)和所述调试组件(4)安装于所述支架(2)上；校准时，所述校准组件(3)伸入所述多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)；调试时，所述调试组件(4)向所述多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)喷雾；

所述校准组件(3)包括遮挡部(31)、动力部(32)，所述动力部(32)带动所述遮挡部(31)伸入或移出所述多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)。

2.如权利要求1所述的多普勒干涉仪校准调试系统，其特征在于，所述调试组件(4)包括储水罐(41)、隔膜泵(42)、雾化喷头(43)、进水管(44)、出水管(45)，所述隔膜泵(42)的一端通过进水管(44)与所述储水罐(41)连接，所述隔膜泵(42)的另一端通过出水管(45)与雾化喷头(43)连接。

3.如权利要求2所述的多普勒干涉仪校准调试系统，其特征在于，还包括转向组件(5)，所述转向组件(5)安装于所述支架(2)上，所述转向组件(5)用于带动所述校准组件(3)和调试组件(4)旋转。

4.如权利要求3所述的多普勒干涉仪校准调试系统，其特征在于，所述转向组件(5)包括旋转气缸(51)、电磁阀(52)、空压机(53)，所述旋转气缸(51)与所述支架(2)连接，所述电磁阀(52)的一端与所述空压机(53)连接，所述电磁阀(52)的另一端与所述旋转气缸(51)连接。

5.一种多普勒干涉仪校准方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S01：布置如权利要求1-4之一所述的多普勒干涉仪校准调试系统；步骤S02：打开所述多普勒干涉仪(1)，控制所述校准组件(3)伸入所述多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)；步骤S03：打开校准程序，对所述多普勒干涉仪(1)相位延迟进行补偿；步骤S04：控制所述校准组件(3)移出多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)。

6.一种多普勒干涉仪调试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S001：布置如权利要求1-4之一所述的多普勒干涉仪校准调试系统；步骤S002：将所述调试组件(4)对准多普勒干涉仪(1)；步骤S003：控制所述调试组件(4)向多普勒干涉仪(1)的光学采样区(11)喷雾；步骤S004：对液滴进行采集；步骤S005：分析采集的所述液滴，判断所述多普勒干涉仪(1)的工作状态；步骤S006：根据所述多普勒干涉仪(1)的工作状态，调试所述多普勒干涉仪(1)。

7.如权利要求6所述的多普勒干涉仪调试方法，其特征在于，步骤S004中，采集时长为10s。

8.如权利要求7所述的多普勒干涉仪调试方法，其特征在于，步骤S005包括以下步骤：步骤S0051，根据采集到的液滴的颗粒数和颗粒通过率判断所述多普勒干涉仪(1)的工作状态是否正常；当采集到的液滴颗粒数大于等于3000，且颗粒通过率高于30％时，则表明多普勒干涉仪(1)的工作状态正常；当采集到的液滴颗粒数小于100，或颗粒通过率小于10％时，则表明多普勒干涉仪(1)的工作状态非正常。

9.如权利要求8所述的多普勒干涉仪调试方法，其特征在于，步骤S0051还包括以下步骤，当采集到的液滴颗粒数小于100，且颗粒通过率小于10％，则表明所述多普勒干涉仪(1)的通信电路存在故障；当采集到的液滴颗粒数在100至3000之间，或颗粒通过率在10％至30％之间，则表明所述多普勒干涉仪(1)的通信电路不存在故障，重新设置所述多普勒干涉仪(1)的参数。