[发明专利]相变存储器及其控制方法和制作方法在审
申请号: | 202110762515.5 | 申请日: | 2021-07-06 |
公开(公告)号: | CN113594199A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 彭文林;刘峻;杨海波;刘广宇;付志成 | 申请(专利权)人: | 长江先进存储产业创新中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;G11C13/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张雪;张颖玲 |
地址: | 430014 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相变 存储器 及其 控制 方法 制作方法 | ||
1.一种相变存储器,其特征在于,包括:
由下至上依次层叠设置的字线、相变存储单元以及第一位线;所述相变存储单元包括相变存储层;其中,所述字线和所述第一位线垂直,所述相变存储单元与所述字线以及所述第一位线均垂直;
n个第二位线,每个所述第二位线平行于所述第一位线,且每个所述第二位线环绕在所述相变存储层周围;其中,n为正整数。
2.根据权利要求1所述的相变存储器,其特征在于,
当n大于或等于2时,所述n个第二位线等间距平行设置,并将所述相变存储层分成厚度相同的n+1个部分。
3.根据权利要求1所述的相变存储器,其特征在于,所述每个第二位线环绕在所述相变存储层周围,包括:
所述相变存储层贯穿每个所述第二位线,且在垂直于所述相变存储单元的平面内,所述第二位线的投影包围所述相变存储层的投影。
4.一种相变存储器的控制方法,其特征在于,所述控制方法应用于权利要求1至3中任一项所述的相变存储器,所述控制方法包括:
浮置所述n个第二位线,将所述第一位线接地;
通过所述字线向所述相变存储单元施加读取电信号,获取所述相变存储层的阻态。
5.根据权利要求4所述的控制方法,其特征在于,所述控制方法包括:
通过所述字线向所述相变存储单元施加擦除电信号,使所述相变存储层的预设部分变为非晶态;
或,
通过所述字线向所述变存储单元施加写入电信号,使所述相变存储层的预设部分变为晶态。
6.根据权利要求5所述的控制方法,其特征在于,所述通过所述字线向所述相变存储单元施加擦除电信号,包括:
将第m个所述第二位线接地,并将所述第一位线和其它n-1个所述第二位线浮置,将所述擦除电信号施加至所述相变存储单元,使所述相变存储层位于第m个所述第二位线与所述字线之间的部分变为非晶态;其中,m为小于或等于n的正整数;
或,
将所述第一位线接地,并将n个所述第二位线浮置,将所述擦除电信号施加至所述相变存储单元,使整个所述相变存储层变为非晶态。
7.根据权利要求5所述的控制方法,其特征在于,所述通过所述字线向所述相变存储单元施加写入电信号,包括:
将第m个所述第二位线接地,并将所述第一位线和其它n-1个所述第二位线浮置,将所述写入电信号施加至所述相变存储单元,使所述相变存储层位于第m个所述第二位线与所述字线之间的部分变为晶态;其中,m为小于或等于n的正整数;
或,
将所述第一位线接地,并将n个所述第二位线浮置,将所述写入电信号施加至所述相变存储单元,使整个所述相变存储层变为晶态。
8.一种相变存储器的制作方法,其特征在于,包括:
在字线上形成相变存储单元;其中,所述相变存储单元包括相变存储层;
形成环绕所述相变存储层周围的n个第二位线;其中,所述n个第二位线相互平行,每个所述第二位线与所述字线和所述相变存储单元均垂直,n为正整数;
在所述相变存储单元上形成第一位线;其中,所述第一位线和所述字线垂直,所述第一位线和所述第二位线平行,所述n个第二位线位于所述第一位线和所述字线之间。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述形成环绕所述相变存储层周围的n个第二位线,包括:
形成绝缘材料层与所述n个第二位线材料层交替层叠的材料叠层结构,刻蚀所述材料叠层结构,形成多个相互平行且贯穿所述材料叠层结构的沟槽;所述沟槽的延伸方向垂直于所述字线,所述沟槽将所述材料叠层结构分割成多个分离的堆叠结构,从而形成所述n个第二位线;其中,相邻两个所述第二位线之间的间距相等。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述在所述字线上形成相变存储单元,包括:
在所述材料叠层结构或堆叠结构中对准所述字线的位置,形成贯穿所述材料叠层结构或所述堆叠结构的通孔;在所述通孔中填充相变存储材料,形成所述相变存储层。
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