[发明专利]一种发射机及其IQ失衡和直流偏置的补偿方法和装置

权利要求书

1.一种IQ失衡和直流偏置的补偿方法，其特征在于，包括：

在第x次循环中，通过平方电路获得第x调制信号的包络特征；

根据所述第x调制信号的包络特征，对IQ失衡和直流偏置参数进行估计，并得到第x补偿系数；

采用所述第x补偿系数，对所述IQ失衡和直流偏置进行第x次补偿，x为正整数；

其中，所述在第x次循环中，通过平方电路获得第x调制信号的包络特征，包括：

获取第x次循环发射信号，按照公式（1）计算第x次循环测试信号，

（1），

其中，i=1,2,…,N，k=1,…,K，θ_i=2πi/N，所述第x次循环发射信号具有NK个发射信号，该NK个发射信号具有K个不同幅度值V_dk且V_dk具有N个不同相位值θ_i，所述第x次循环测试信号包括NK个测试信号S[(k-1)N+i]，k、i、N和K均为正整数，N大于或等于2且K大于或等于2；

对所述第x次循环测试信号进行包络检测，从所述测试信号S[(k-1)N+i]中采集长度为Rx_Len的包络特征Z_n。

2.根据权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，

x=1时，第1次循环发射信号的K个不同幅度值为预设的V_d1至V_dK，每个V_dk的N个不同相位值为预设的θ₁至θ_N；

x1时，第x次循环发射信号的K个不同幅度值为采用第x-1补偿系数进行补偿后的V_d1至V_dK，每个V_dk的N个不同相位值为采用所述第x-1补偿系数进行补偿后的θ₁至θ_N。

3.根据权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，所述根据所述第x调制信号的包络特征，对IQ失衡和直流偏置参数进行估计，并得到第x补偿系数，包括：

按照公式（2）计算得到所述S[(k-1)N+i]的测试平均信号m_k,i，则对于每个幅度值V_dk得到N个测试平均信号m_k=[m_k,1，m_k,2，…，m_k,N]^T，

（2）；

采用预先计算的IQ失衡模型，估算所述IQ失衡和直流偏置参数，得到所述第x补偿系数。

4.一种IQ失衡和直流偏置的补偿装置，其特征在于，包括：

包络检测模块，用于在第x次循环中，通过平方电路获得第x调制信号的包络特征；

IQ估算模块，用于根据所述第x调制信号的包络特征，对IQ失衡和直流偏置参数进行估计，并得到第x补偿系数；

IQ预补偿模块，用于采用所述第x补偿系数，对所述IQ失衡和直流偏置进行第x次补偿，x为正整数；

其中，所述包络检测模块包括：

测试单元，用于获取第x次循环发射信号，按照公式（1）计算第x次循环测试信号，

（1），

其中，i=1,2,…,N，k=1,…,K，θ_i=2πi/N，所述第x次循环发射信号具有NK个发射信号，该NK个发射信号具有K个不同幅度值V_dk且V_dk具有N个不同相位值θ_i，所述第x次循环测试信号包括NK个测试信号S[(k-1)N+i]，k、i、N和K均为正整数，N大于或等于2且K大于或等于2；

包络检测单元，用于对所述第x次循环测试信号进行包络检测，从所述测试信号S[(k-1)N+i]中采集长度为Rx_Len的包络特征Z_n。