[发明专利]控制装置、控制装置的控制方法及计算机可读取记录介质

说明书

本发明提供一种控制装置、控制装置的控制方法及计算机可读取记录介质，通过考虑伺服控制系统的位置与工件的位置的偏离，从而实现所述工件的位置控制的高精度化。控制装置(10)确定工件(40)的位置(Pw)与检测位置(Pd)的偏离量即第一偏离量(Fd)、以及反馈位置(Pf)与考虑到响应延迟时间(Ds)的目标位置(Pt)的偏离量即第二偏离量(Sd)。

技术领域

本发明涉及一种将根据目标轨道运算出的指令值输出至伺服控制系统的控制装置等，尤其涉及一种控制装置、控制装置的控制方法及计算机可读取记录介质。

背景技术

以往，对于在每个控制周期将根据目标轨道而生成的指令值输出至伺服控制系统，以对所述伺服控制系统进行控制的控制装置，已知有如下所述的尝试，即，通过考虑所述伺服控制系统的响应延迟时间，从而欲使借助所述伺服控制系统的控制高精度化。

例如，下述的专利文献1中公开了一种控制装置，其为了抑制因多轴(多个伺服马达)间的响应延迟时间的偏差引起的轨迹偏离，而执行以下的处理。即，公开了一种控制装置，其根据各伺服马达的响应延迟时间来调整对各伺服驱动器的指令时机。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特开2017-102616号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

但是，即使考虑到所述伺服控制系统的响应延迟时间，所述伺服控制系统自身的位置与由所述伺服控制系统来控制位置的工件的位置仍可能产生偏离。

本发明的一实施例的目的在于，通过考虑所述伺服控制系统自身的位置、与由所述伺服控制系统来控制位置的工件的位置的偏离，从而实现所述工件的位置控制的高精度化。

[解决问题的技术手段]

为了解决所述问题，本发明的一实施例的控制装置将根据目标轨道运算出的指令值输出至伺服控制系统，所述控制装置包括：第一偏离量计算部，根据检测时刻的检测装置的检测结果来算出第一偏离量，所述检测时刻是考虑到所述伺服控制系统的响应延迟时间而根据所述目标轨道所算出的目标位置与所述检测装置对检测对象进行检测的位置即检测位置一致的时刻，所述第一偏离量是由所述伺服控制系统来控制位置的工件的位置距所述检测位置的偏离量；第二偏离量计算部，算出第二偏离量，所述第二偏离量是所述伺服控制系统在所述检测时刻的反馈位置、与所述检测时刻的考虑到所述响应延迟时间而算出的所述目标位置的偏离量；以及指令值生成部，根据利用所述第一偏离量与所述第二偏离量对根据所述目标轨道算出的目标位置进行了修正的修正后目标位置、与所述响应延迟时间，来生成所述指令值。

根据所述结构，所述控制装置根据利用所述第一偏离量与所述第二偏离量对所述目标位置进行了修正的所述修正后目标位置、与所述响应延迟时间，而生成输出至所述伺服控制系统的所述指令值。

此处，若在所述检测时刻，所述反馈位置与“考虑到所述伺服控制系统的响应延迟时间的所述目标位置”完全一致，则在所述检测时刻，所述反馈位置将与所述检测位置完全一致。因此，若在所述检测时刻，所述反馈位置与“考虑到所述伺服控制系统的响应延迟时间的所述目标位置”完全一致，则所述工件的位置距所述反馈位置的偏离量仅根据所述第一偏离量便能够确定。

但是，实际上，在所述检测时刻，所述反馈位置与“考虑到所述伺服控制系统的响应延迟时间的所述目标位置”有时不完全一致。

因此，所述控制装置除了所述第一偏离量以外，还考虑所述第二偏离量，由此来高精度地确定所述检测时刻的“所述工件的位置距所述反馈位置的偏离量”。并且，所述控制装置根据利用所确定的“所述工件的位置距所述反馈位置的偏离量”对“根据所述目标轨道所算出的目标位置”进行了修正的所述修正后目标位置、与所述伺服控制系统的所述响应延迟时间，来生成所述指令值。