[发明专利]电气试验计算方法、装置、设备和介质

说明书

本发明公开了一种电气试验的计算方法，该方法包括：通过获取的电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，并与电气允许误差进行比较判断来判定电气测试结果，这样可以减少现场工作人员的计算量和失误的可能性，能实现对电气数据的计算和误差的判断，为工作人员后续作出正确判断奠定良好基础。此外，还提出了电气试验的计算装置、设备和存储介质。

技术领域

本发明涉及电气试验技术领域，尤其是涉及电气试验计算方法、装置、设备和介质。

背景技术

电力行业的从业者，经常需要对电气设备进行各种试验。然而每种试验的方法、得到的数据、采用的及格标准都不一样。有些是相对简单且容易作出判断的，如耐压试验、绝缘电阻试验等，而有些则要经过一定的公式计算，并且结果正确与否也不是那么明显，如三相直流电阻测试、介损因素测试等。

这些相对复杂一些的计算需要试验人员记住各个对应的公式，并在现场就作出是否符合标准的判断，如果未能作为正确的判断，将错误的数据误当成正常的数据，严重时可能引发设备损坏或停电事故；没引发事故也需要重新试验，就要重新搬运仪器、申请手续，这会造成无必要的资源浪费。所以一个能当场供试验人员进行试验数据计算并判断是否正确的方案对现场的工作有很大的帮助。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供可现场进行计算，提高试验效率的电气试验的计算方法、装置、设备和介质。

一种电气试验的计算方法，所述方法包括：

获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；

获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。

在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：

获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据所述温度历史值、所述温度测量值和所述电阻温度常数计算电阻折算率；

获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据所述至少一个的测量电阻值和所述电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据所述折算电阻值及所述历史电阻值计算所述至少一个单相的单相偏差值；

所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：

获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于所述单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于所述单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。

在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，还包括：

获取三相的测量电阻值，根据所述三相的测量电阻值计算三相偏差；

所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：

获取预设的三相允许偏差，判断所述三相偏差是否小于或等于所述三相允许偏差，若所述三相偏差小于或等于所述三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。

在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：

获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据所述第一电容测量值和所述第二电容测量值计算串联电容测量值；

获取电容铭牌值，根据所述串联电容测量值和所述电容铭牌值计算电容实际偏差；

所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：